奧林巴斯超聲測(cè)厚儀 45MG

奧林巴斯超聲測(cè)厚儀 45MG操作簡便、堅(jiān)固耐用、性能可靠

45MG超聲測(cè)厚儀操作簡便、堅(jiān)固耐用、性能可靠

標(biāo)準(zhǔn)功能

裝備了基本配置的奧林巴斯超聲測(cè)厚儀 45MG是一款操作簡便的測(cè)厚儀，操作人員只需得到最基本的培訓(xùn)，就可以完成大多數(shù)普通的測(cè)厚應(yīng)用。不過，45MG測(cè)厚儀添加了可選軟件選項(xiàng)并使用了附加的探頭后，就會(huì)變成一款高級(jí)測(cè)厚儀，可以完成一般的初級(jí)儀器無法完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項(xiàng)可以在購買儀器時(shí)單獨(dú)購買，或在日后需要時(shí)購買。

•與奧林巴斯的所有雙晶探頭兼容，可為內(nèi)部腐蝕的金屬進(jìn)行厚度測(cè)量

•最小值/至大值模式

•兩個(gè)報(bào)警模式

•差值模式

•時(shí)基B掃描

•縮減率

•增益調(diào)整（標(biāo)準(zhǔn)、高、低）

•通過密碼鎖定儀器

可選功能

只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測(cè)厚儀到多功能精確測(cè)厚儀的華麗變身

45MG測(cè)厚儀提供需使用密碼激活的5個(gè)軟件選項(xiàng)，從而成為一款業(yè)內(nèi)具有廣泛用途的測(cè)厚儀。

回波到回波/穿透涂層技術(shù)

使用回波到回波選項(xiàng)，儀器屏幕上會(huì)顯示金屬的實(shí)際厚度，而涂層的厚度會(huì)被忽略。 穿透涂層技術(shù)測(cè)量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進(jìn)行厚度測(cè)量時(shí)，無需去掉材料表面的漆層或涂層。

單晶

這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)很多材料，如：金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷，進(jìn)行非常精確的厚度測(cè)量?？膳c范圍在 2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

單晶高穿

透這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進(jìn)行厚度測(cè)量?？膳c范圍在0.5 MHz到 30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。

數(shù)據(jù)記錄器 

45MG測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲(chǔ)和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。 這個(gè)選項(xiàng)包含基于Windows的GageView接口應(yīng)用程序。

帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時(shí)A掃描

用戶購買了這個(gè)可選實(shí)時(shí)A掃描模式后，可以在測(cè)厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測(cè)量讀數(shù)，對(duì)增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動(dòng)調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中增強(qiáng)儀器的測(cè)量性能。這個(gè)有益的選項(xiàng)包含手動(dòng)增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、回波空白、范圍及延參數(shù)。

對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測(cè)量

使用雙晶探頭

45MG測(cè)厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測(cè)量那些受到了腐蝕或侵

蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)

的剩余厚度。在這些應(yīng)用中常使用的是雙晶探頭。

• 用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能

• 當(dāng)校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)了雙回波時(shí)，會(huì)發(fā)出雙回波警告

• 回波到回波/穿透涂層技術(shù)選項(xiàng)可在帶有漆層和涂層的表面

上測(cè)量材料的厚度

• 高溫測(cè)量：可測(cè)量溫度高達(dá)500 °C的材料。

B掃描成像（基于時(shí)間）

45MG測(cè)厚儀所配備的B掃描功能，可在屏幕上將實(shí)時(shí)厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用，因?yàn)榭墒褂脩粲^察到材料的厚度值隨著探頭的移動(dòng)而發(fā)生的變化。探頭一接觸到材料表面，就會(huì)激活B掃描。凍結(jié)最小值功能用于顯示已掃查區(qū)域中的最小厚度值。45MG測(cè)厚儀的可選購數(shù)據(jù)記錄器最多可存儲(chǔ)單個(gè)B掃描中的10000 個(gè)厚度讀數(shù)。

高溫表面

45MG測(cè)厚儀使用D790系列探頭（D790、D790-SM、 D790-RL和D790-SL）測(cè)量高溫材料時(shí)（溫度可高達(dá) 500 oC），可以獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)，因此可以說這款儀器為用戶提供了一種理想的高溫檢測(cè)解決方案。其零位補(bǔ)償功能，通過補(bǔ)償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進(jìn)行測(cè)量的精確性。

回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)

回波到回波

測(cè)厚儀通過使用多重底面回波，可以顯示不計(jì)涂層厚度的實(shí)際金屬厚度：

• 自動(dòng)回波到回波

• 手動(dòng)回波到回波可啟用以下功能（只可在選購的A掃描中使用）：

- 增益調(diào)整

- 擴(kuò)展空白

- 回波空白

穿透涂層技術(shù)

使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度，這兩個(gè)厚度都是根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整的數(shù)據(jù)。因此，要測(cè)量金屬材料的厚度，無需去掉其表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906 SM、D7906-RM 和D7908雙晶探頭