岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

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EVG光刻機(jī)
EVG鍵合機(jī)
晶圓關(guān)鍵尺寸測(cè)量
EVG納米壓印機(jī)
膜厚儀
防震臺(tái)
晶圓厚度測(cè)量
應(yīng)力測(cè)量
3D形貌儀/白光干涉輪廓儀
光學(xué)鏡頭對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)(定心儀)
片電阻測(cè)量?jī)x
晶圓缺陷檢測(cè)
等離子去膠
橢偏儀
臺(tái)階儀
4D 動(dòng)態(tài)激光干涉儀
光學(xué)粗糙度測(cè)試儀
電容式位移傳感器
磁性材料檢測(cè)設(shè)備
全自動(dòng)測(cè)量機(jī)臺(tái)

  • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是表面缺陷檢測(cè)的蕞完善的國產(chǎn)化替代產(chǎn)品，系統(tǒng)包括四個(gè)模塊可以檢測(cè)所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù)：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測(cè)模...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    晶圓檢測(cè)表面缺陷檢測(cè)缺陷檢測(cè)
    2024/12/18 13:38:331513

  • UltraFilm薄膜測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測(cè)量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動(dòng)的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測(cè)量技術(shù)，是國內(nèi)可以...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    薄膜測(cè)量同質(zhì)膜厚全自動(dòng)檢測(cè)
    2024/11/26 17:16:591743

  • QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動(dòng)控制平臺(tái)相結(jié)合，可以在高達(dá) ...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    光學(xué)相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:44:272062

  • QuickPRO-RPS--旋轉(zhuǎn)剖面儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    專為測(cè)量旋轉(zhuǎn)對(duì)稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設(shè)計(jì)，如金剛石車削光學(xué)表面和模塑或拋光的非球面透鏡
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    旋轉(zhuǎn)剖面儀OATI輪廓儀形貌儀
    2024/11/9 15:42:531130

  • QuickPRO-3D--表面輪廓儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    適用于光學(xué)、工業(yè)和半導(dǎo)體市場(chǎng)的高速、中精度、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的表面輪廓儀，納米分辨率彩色共聚焦傳感器（可配制點(diǎn)和線傳感器），為在線過程測(cè)量和控制而設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)緊湊，易于上...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    輪廓儀表面測(cè)量3D形貌儀白光干涉輪廓儀
    2024/11/9 15:41:001603

  • QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動(dòng)控制平臺(tái)相結(jié)合，可以在高達(dá) ...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    應(yīng)力測(cè)量光學(xué)相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:36:491080

  • iFocus晶圓檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備，利用STI的2D/3D視覺檢測(cè)系統(tǒng)，采用雙2D Camera同時(shí)采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷；True 3D技術(shù)，...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    長川晶圓檢測(cè)iFocus晶圓缺陷檢測(cè)STI
    2024/11/9 15:34:221880

  • 光學(xué)粗糙度測(cè)試儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：WM 300
    光學(xué)粗糙度測(cè)試儀WaferMaster WM 300 不像傳統(tǒng)輪廓儀需要長時(shí)間的垂直高度掃描加上水平拼接以得到3D的表面輪廓進(jìn)行耗時(shí)粗糙度計(jì)算。利用角分辨光散射...
    型號(hào)： WM 300 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    WM 300光學(xué)粗糙度測(cè)試儀Optosurf
    2024/11/9 14:35:192242

  • 晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：PLS-F1000
    晶圓幾何形貌測(cè)量及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)使用高精度高速光譜共焦雙探頭對(duì)射傳感器實(shí)現(xiàn)晶圓的非接觸式測(cè)量，結(jié)合高精度運(yùn)動(dòng)模組及晶圓機(jī)械手可實(shí)現(xiàn)晶圓形貌的亞微米級(jí)精度的測(cè)量，...
    型號(hào)： PLS-F1000 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    PLS-F1000形貌測(cè)量參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)
    2024/11/9 14:30:533729

  • 微波等離子清洗機(jī) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：P03Q-6LS Plasma
    微波等離子清洗機(jī)專為微電子表面清潔與改性設(shè)計(jì)，用于改善引線鍵合和芯片鍵合結(jié)合力，倒裝芯片填充不足等封裝制程，可用于處理各種電子材料，包括塑料、金屬或者玻璃等。
    型號(hào)： P03Q-6LS ... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    微波等離子清洗微波等離子清洗機(jī)
    2024/11/26 17:10:303264

  • 微流控缺陷檢測(cè) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：Nanotronics nSpec Macro
    微流控缺陷檢測(cè) Nanotronics nSpec Macro可以照亮樣品的整個(gè)面，或設(shè)置照明角度和/或離散照明矢量。 明場(chǎng)，暗場(chǎng)，正交和可配置的傾斜照明角度與...
    型號(hào)： Nanotroni... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    微流控缺陷檢測(cè)
    2024/11/9 14:22:118317

  • 晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：Nanotronics nSpec LS
    Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)是研發(fā)和過程開發(fā)的理想系統(tǒng)。它按順序運(yùn)行多個(gè)掃描。友好的用戶界面軟件使配置配方變得毫不費(fèi)力。而且，隨...
    型號(hào)： Nanotroni... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)晶圓缺陷檢測(cè)
    2024/11/9 14:14:143945

  • 硅片厚度測(cè)量 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：Filmetrics F3-sX
    硅片厚度測(cè)量?jī)x采用的是近紅外光(NIR)來測(cè)量膜層厚度，因此可以測(cè)試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導(dǎo)體膜層) 。
    型號(hào)： Filmetric... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    硅片厚度測(cè)量Filmetrics F3-sX薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x膜厚儀
    2025/1/16 10:05:373279

  • StrainScope Flex可調(diào)式實(shí)時(shí)應(yīng)力儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    StrainScope Flex可調(diào)式實(shí)時(shí)應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測(cè)量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn)，對(duì)大尺寸樣品可拼接測(cè)量。其應(yīng)力測(cè)量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司、J...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 13:59:552802

  • 實(shí)時(shí)型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    實(shí)時(shí)型StrainScope S3/S4 應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測(cè)量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn)，對(duì)大尺寸樣品可拼接測(cè)量。其應(yīng)力測(cè)量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司、J...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 13:57:422798

  • 拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    拼接型StrainMatic stepper應(yīng)力儀 產(chǎn)品具有測(cè)量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn)，對(duì)大尺寸樣品可拼接測(cè)量。其應(yīng)力測(cè)量設(shè)備用戶廣，用戶包括肖特、卡爾...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    薄膜應(yīng)力儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 13:56:052362

  • Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測(cè)量?jī)x 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    Filmetrics F3-sX半導(dǎo)體薄膜測(cè)量?jī)x可以測(cè)試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測(cè)大厚度達(dá)3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    2024/11/26 17:22:524028

  • Filmetrics F32薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    Filmetrics F32薄膜厚度測(cè)量?jī)x 使用F32可以簡(jiǎn)單快速地在線測(cè)量膜厚。從對(duì)膜的頂部和底部反射光譜進(jìn)行分析可得到實(shí)時(shí)厚度信息。
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 13:50:163273

  • Filmetrics F60高級(jí)光譜反射系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    Filmetrics F60薄膜厚度測(cè)量?jī)x 電動(dòng)R-Theta平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)，并在幾秒鐘內(nèi)提供厚度測(cè)量。 選擇數(shù)十種預(yù)定義的極坐標(biāo)，矩形或線性地圖...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 13:48:262286

  • Filmetrics F40薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    Filmetrics F40薄膜厚度測(cè)量?jī)x 產(chǎn)品能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)45...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 13:46:332628

  • Filmetrics F54薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    Filmetrics F54薄膜厚度測(cè)量?jī)x能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    2024/11/26 17:19:074045

  • Filmetrics F10-RT薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    Filmetrics F10-RT薄膜厚度測(cè)量?jī)x 僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時(shí)收集反射與透射光譜，不到一秒鐘的時(shí)間，陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 13:43:012628

  • F2-RT 光譜反射和透射測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    F2-RT 光譜反射和透射測(cè)量系統(tǒng)是美國Filmetrics新推出的物超所值同時(shí)測(cè)量反射率和透射率的儀器。
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x折射率測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 13:41:002561

  • Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀 目標(biāo)光譜與多條反射光譜比較 – 自動(dòng)評(píng)估反射率，*小/*大位置，并得出明確的讀數(shù)結(jié)論。大 大的減少了人為造成的讀...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    膜厚儀膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)膜儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 13:39:162693
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