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單晶硅標準樣

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  • 所 在 地：
  • 生產地址：
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  • 海德創(chuàng)業(yè)（北京）生物科技有限公司
  • 2017-04-07 13:33:46
  • 北京市
  • 803

我要詢價 具體成交價以合同協(xié)議為準

【簡單介紹】

單晶硅標準樣（Silicon Test Specimen）用于掃描電鏡放大倍數(shù)校準（同時評估圖象扭曲度），也可用于光學顯微鏡。5mm x 5mm見方，每10µm （0.01mm）有一方格，格與格之間分割線大約為1.9µm寬，每隔500µm有一稍寬的分隔線（便于用于光學顯微鏡）；分隔線由光蝕刻形成，約200nm深。

【詳細說明】

單晶硅標準樣（Silicon Test Specimen）

    單晶硅標準樣，即可用于掃描電鏡放大倍數(shù)的校準（同時評估圖象扭曲度），也可用于光學顯微鏡。5mm x 5mm見方，每10µm (0.01mm)有一方格，格與格之間分割線大約為1.9µm寬，每隔500µm有一稍寬的分隔線（便于用于光學顯微鏡）；分隔線由光蝕刻形成，約200nm深。不同樣品均可以直接放置于上，從而為低倍電鏡或者光鏡進行內部標定。

以下是產品的貨號、名稱和規(guī)格可根據(jù)掃描電鏡型號的不同選擇試樣及所帶的樣品臺。

產品訂購信息：

產品貨號

產品名稱

產品規(guī)格

79502-01

Silicon Test Specimen,

Unmounted單晶硅試樣

1

79502-10

Silicon Test Specimen,

Unmounted

10/pk

79502-12

Silicon Test Specimen on

12.5mm Pin Stub

1

79502-20

Silicon Test Specimen for

Incident LM

1

79502-30

Calibration Certificate證書

（需另選擇單晶硅試樣）

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