北京恒奧德儀器儀表有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第16年

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產(chǎn)品熱賣 聲波探傷試塊

時(shí)間:2017-7-25閱讀:312
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LY-CSK-IA標(biāo)準(zhǔn)試塊/CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊/CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊/CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊是中華人民共和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊JB4730-2005

CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊、CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊適用于板厚6~250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的聲檢測(cè)和分。
CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊:階梯(3~22mm),板厚≤20mm雙晶直探頭試塊
CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊:1#~6#套共6塊,板厚>20mm單直探頭試塊,件檢測(cè)距離小于45mm時(shí),應(yīng)采用CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊。
CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊:1#~4#套共4塊。
CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊:套4塊
CSIII標(biāo)準(zhǔn)試塊:合套14塊
奧氏體鋼鍛件試塊:套27塊(來料)
LY-CSK-1A:材料(P91、不銹鋼、鋁合金)配有LY-CSK-IA用支架

標(biāo)準(zhǔn)試塊LY-CSK-IA

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