供應(yīng)UV-313或UV-340紫外輻照計(jì)

該款紫外輻照計(jì)采用 SMT 貼片技術(shù)，選用高精
度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)
器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適
用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光
源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度
測(cè)量工作。

供應(yīng)UV-313或UV-340紫外輻照計(jì)特點(diǎn)

* 光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正 

* 數(shù)字液晶顯示，帶背光

* 手動(dòng)/自動(dòng)量程切換 

* 數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電） 

* 低電量提醒 

* 自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī) 

* 有數(shù)字保持 

* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

主要技術(shù)指標(biāo)  

* 波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng)：(以下兩種選其一) （1）UV-340 探頭：λ：(315～370)nm；λP＝340nm （2）UV-313 探頭：λ：(290～340)nm；λP＝313nm 

* 輻照度測(cè)量范圍： (0.1～199.9×103 ) μW/cm2 

* 紫外帶外區(qū)雜光： UV313：小于 0.05% UV340：小于 0.05% 

* 相對(duì)示值誤差：±8%（相對(duì)與 NIM 標(biāo)準(zhǔn)） 

* 余弦特性（方向性響應(yīng)）誤差：±10% 

* 線性誤差：±1% 

* 換檔誤差：±1% 

* 短期不穩(wěn)定性：±1%（開(kāi)機(jī) 30min 后）

* 疲勞特性：衰減量小于 2% 

* 零值誤差：滿量程的±1% 

* 響應(yīng)時(shí)間：1 秒 

* 使用環(huán)境： 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH 

* 尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg

* 電源： 常規(guī)使用 6F22 型 9V 積層電池一只 亦可使用數(shù)據(jù)線連接 USB 接口、5V 電源適配器供電  整機(jī)功耗 ＜0.1VA