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斷裂力試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：面議
斷裂力試驗(yàn)機(jī)采用微機(jī)控制并結(jié)合*電子控制技術(shù)，實(shí)行標(biāo)準(zhǔn)化、單元化設(shè)計(jì)，具有控制準(zhǔn)確、測量精度高、配置靈活，可輕松實(shí)現(xiàn)附件互換，極易售后服務(wù)等特點(diǎn)。
窗簾滑輪拉力試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：面議
窗簾滑輪拉力試驗(yàn)機(jī)為材料力學(xué)性能測量的試驗(yàn)設(shè)備，可進(jìn)行金屬與非金屬、高分子材料等的拉伸、剝離、壓縮、彎曲、剪切、頂破、戳穿、疲勞等項(xiàng)目的檢測。
膠膜拉力測試機(jī) 參考價(jià)：面議
膠膜拉力測試機(jī)為材料力學(xué)性能測量的試驗(yàn)設(shè)備，可進(jìn)行金屬與非金屬、高分子材料等的拉伸、剝離、壓縮、彎曲、剪切、頂破、戳穿、疲勞等項(xiàng)目的檢測。
納米材料電子拉力試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：面議
納米材料電子拉力試驗(yàn)機(jī)具有較寬的調(diào)速范圍，外形更美觀，操作更方便，無污染、噪音低、效率高、性能更穩(wěn)定、 加工更精細(xì)、設(shè)計(jì)更新穎，品質(zhì)更保障，價(jià)格優(yōu)廉，制造行業(yè)品...
拉力測試儀 參考價(jià)：面議
拉力測試儀可根據(jù)客戶產(chǎn)品要求按GB、ISO、ASTM、JIS、EN等標(biāo)準(zhǔn)編制，能自動求取Z大試驗(yàn)力，拉力拉伸，斷裂力，屈服力，抗拉強(qiáng)度，抗壓強(qiáng)度，彎曲強(qiáng)度，彈性...
雙向拉力試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：面議
雙向拉力試驗(yàn)機(jī)為材料力學(xué)性能測量的試驗(yàn)設(shè)備，可進(jìn)行金屬與非金屬、高分子材料等的拉伸、剝離、壓縮、彎曲、剪切、頂破、戳穿、疲勞等項(xiàng)目的檢測。
大連塑料制品拉力試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：面議
大連塑料制品拉力試驗(yàn)機(jī)為材料力學(xué)性能測量的試驗(yàn)設(shè)備，可進(jìn)行金屬與非金屬、高分子材料等的拉伸、剝離、壓縮、彎曲、剪切、頂破、戳穿、疲勞等項(xiàng)目的檢測。
氣凝膠拉力機(jī) 參考價(jià)：面議
氣凝膠拉力機(jī)噪音低、效率高、性能穩(wěn)定，具有較寬的調(diào)速范圍。本機(jī)適用于各種復(fù)合材料、非金屬及復(fù)合材料的力學(xué)性能指標(biāo)的測試，符合國家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。
包裝袋拉力試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：面議
包裝袋拉力試驗(yàn)機(jī)可適用于進(jìn)行5000N以內(nèi)的材料拉伸、壓縮、彎曲、抗彎、剝離、刺破等試驗(yàn)，可滿足GB、ISO、JIS、ASTM、DIN、JG、JT、YB、QB、...
塑膠帶拉力試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：面議
塑膠帶拉力試驗(yàn)機(jī)為材料力學(xué)性能測量的試驗(yàn)設(shè)備，可進(jìn)行金屬與非金屬、高分子材料等的拉伸、剝離、壓縮、彎曲、剪切、頂破、戳穿、疲勞等項(xiàng)目的檢測。
包裝帶拉斷試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：面議
包裝帶拉斷試驗(yàn)機(jī)為材料力學(xué)性能測量的試驗(yàn)設(shè)備，可進(jìn)行金屬與非金屬、高分子材料等的拉伸、剝離、壓縮、彎曲、剪切、頂破、戳穿、疲勞等項(xiàng)目的檢測。
微機(jī)控制扭轉(zhuǎn)式拉力機(jī) 參考價(jià)：面議
微機(jī)控制扭轉(zhuǎn)式拉力機(jī)可進(jìn)行非金屬、高分子材料、復(fù)合材料等的拉伸、扭轉(zhuǎn)、壓縮、彎曲、頂破、戳穿、疲勞等項(xiàng)目的檢測。
電池焊接鎳片拉力測試儀 參考價(jià)：面議
電池焊接鎳片拉力測試儀采用微機(jī)控制并結(jié)合*電子控制技術(shù)，實(shí)行標(biāo)準(zhǔn)化、單元化設(shè)計(jì)，具有控制準(zhǔn)確、測量精度高、配置靈活，可輕松實(shí)現(xiàn)附件互換，極易售后服務(wù)等。機(jī)型結(jié)構(gòu)...
微機(jī)控制推拉力測試機(jī) 參考價(jià)：50000
微機(jī)控制推拉力測試機(jī)可進(jìn)行微電子引線鍵合后引線焊接強(qiáng)度測試、焊點(diǎn)與基板表面粘接力測試、焊球重復(fù)性推力疲勞測試（內(nèi)引線拉力測試、微焊點(diǎn)推力測試、金球推力測試、芯片...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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