分體測(cè)試涂層測(cè)厚儀 返回列表頁

分體測(cè)試涂層測(cè)厚儀QCC930

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍:(0~1250)μm(F1、N1 測(cè)頭)F400 測(cè)頭可以檢測(cè)微小工件，F(xiàn)10 測(cè)頭可達(dá)

1 0mm ;

分辨率:0.1μm(F1、N1 測(cè)頭)

示值精度:土(2%H+1)μm;H為被測(cè)涂層厚度

顯示方法:128*64 點(diǎn)陣液晶 LCD

存儲(chǔ)容量:可存儲(chǔ)5組(每組最多100個(gè)測(cè)量值)測(cè)量數(shù)據(jù)

單位制:公制(μm)、英制(mil)，可自由轉(zhuǎn)換

工作電壓:3V(2節(jié)5號(hào)堿性電池)

持續(xù)工作時(shí)間:大于 200 小時(shí)(不開背光時(shí))

通訊接口:USB 通訊接口，可與PC機(jī)連接、通訊

外形尺寸:115mmX67mmx31mm

整機(jī)重量:340g

分體測(cè)試涂層測(cè)厚儀QCC930

功能特色

有多種測(cè)頭類型可供選擇，通過選擇相應(yīng)的測(cè)頭，既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋

層的厚度，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度

測(cè)頭接觸部件鍍硬鉻或?yàn)榧t寶石，經(jīng)久耐用

自動(dòng)識(shí)別探頭

可設(shè)定上下限值，測(cè)量結(jié)果大于等于上下限數(shù)值時(shí),儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提

爾

通過屏顯或蜂鳴聲對(duì)錯(cuò)誤進(jìn)行提示

設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(N0.)、標(biāo)

準(zhǔn)偏差(S.DEV)

具有測(cè)頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、一點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)

行修正

可選擇配備微機(jī)軟件，具有傳輸測(cè)量結(jié)果、測(cè)值存儲(chǔ)管理、測(cè)值統(tǒng)計(jì)分析、打印測(cè)值報(bào)

告等豐富功能

通訊功能，可與PC連機(jī)、通過電腦端軟件分析數(shù)據(jù)、實(shí)行打印報(bào)告等

采用 ABS 塑料外殼，小巧、便攜、堅(jiān)實(shí)耐用，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動(dòng)、沖擊和

電磁干擾

工作原理

 磁性測(cè)厚法：適用于測(cè)量磁性金屬基體如鋼、鐵等上非磁性涂層的厚度，利用磁鐵與導(dǎo)磁鋼材間吸力和距離的比例關(guān)系，或依據(jù)從測(cè)頭經(jīng)非鐵磁覆層流入鐵磁基體磁通、磁阻大小測(cè)定覆層厚度。

渦流測(cè)厚法：用于測(cè)量導(dǎo)電金屬上非導(dǎo)電層厚度，測(cè)頭線圈產(chǎn)生的電磁場(chǎng)使靠近的導(dǎo)體形成渦流，渦流大小以反射阻抗體現(xiàn)，從而反映出非導(dǎo)電覆層厚度。