經濟型SUNPLUS塑料顆粒黑點儀

顆粒表面的黑點是影響產品質量的重要原因。由于顆粒的外形不規(guī)則及透光度不同，顆粒的黑點檢測一直是技術難點。Sunplus利用專門設計的光學成像方法，推出批次靜態(tài)檢測方法，可以有效解決顆粒的黑點檢測難題。這種靜態(tài)黑點檢測法的優(yōu)點是批次操作，檢測準確， 還可以數(shù)顆粒的個數(shù)，從而獲得黑點顆粒比，為產品的質量評判提供有價值的參數(shù)。

SUNPLUS塑料顆粒黑點儀用途Application

按相關國家標準分析樹脂顆粒的雜質黑點的大小、數(shù)量，以及黑點顆粒占比。

適用于透明、半透明、不透明的膜片、顆粒，如PP、PE、PVC、PPS等等。

也適用薄膜等透明體的黑點和內在疵點的檢測和分析。

技術指標Specifications

1.測量規(guī)格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按選用的標準，可在軟件界面選定。

2.最小檢測目標： 0.1mm  

3.檢測精度： 小于0.025mm

4.檢測面積：不小于200×200mm  

5.器皿大小：120mm×120mm凈面積，或定制

6.放大倍數(shù)：>20倍  

7.光密度:不小于6000流明

8.光源要求: 24V/60W  

9.供電電源：220V,50HZ  

10.外形尺寸：約459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)

儀器功能特點

1.測量黑點的大小和數(shù)量,以及黑點顆粒占比數(shù)。                                                

2.可提供黑點，以及膜片質地紋路的分布圖譜。

3.黑點或膜片質地分布可放大和縮小。

4.被測目標可分類計數(shù)和統(tǒng)計。

5.按適用的標準自動生成檢測報告。

6.報告和圖譜可打印可儲存。

7.進樣方向與屏幕顯示的走向一致，友好的界面視覺感。

8.顆粒以透明器皿為載體，批次檢測。