產品描述：
TUX-3300N 是一款專為高精度、高分辨率X射線成像設計的顯微鏡檢查裝置，它結合了優(yōu)良的X射線技術和精密的機械結構，為用戶提供了一種非破壞性的檢測手段，適用于各種微型電子部件、半導體器件、材料科學以及生物醫(yī)學等領域的檢測和分析。
特點：
采用筐體設計，提高使用性
高速檢查機械應對功能和半自動檢查機功能
探測器最大傾斜角度60° ，載物臺尺寸，直徑400mm
高分辨率 0.4um 分辨率，擁有 1200 倍幾何的高放大倍率
放大倍率和 7200 倍顯示器放大倍率。
低像差納米聚焦技術可產生出色的分辨率結果。
用于半導體、精細電氣器件的觀察和分析。• 具有可處理大型電路板的載物臺。
系統(tǒng)使用直徑為 400 毫米的轉盤，可以進行檢查
可以從任何角度檢查樣品。
支持加熱和CT功能。
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