產(chǎn)品概述：
OPAL-MD 多晶粒測試站通過準(zhǔn)確、可重復(fù)、靈活和快速的硬件為集成光子學(xué)提供高性能表征。PILOT 軟件套件增強了 OPAL-MD 的硬件功能，提供自動化測試站和質(zhì)量測量源，可轉(zhuǎn)化為可操作的數(shù)據(jù)。完整的應(yīng)用程序套件是一個支持完整測試和測量流程的平臺，可幫助用戶更加以數(shù)據(jù)為導(dǎo)向。OPAL-MD與EXFO先進的光學(xué)測量功能相結(jié)合，對任何第三方儀器開放，是PIC測試的專用平臺。
該工作站的硬件包括一個電動 4 軸運動系統(tǒng)卡盤定位平臺，可選配熱控制。它還包括一個高分辨率頂部視覺系統(tǒng)和一個遠心側(cè)面視覺系統(tǒng)。該工作站最多可容納三個用于光學(xué)或電測頭的測頭。
基座運動系統(tǒng)和電動光學(xué)探頭的高分辨率和可重復(fù)性轉(zhuǎn)化為更低的光學(xué)測量插入損耗和誤差裕度，可以在多個芯片和電路上高效重復(fù)，在測試執(zhí)行過程中無需任何人工干預(yù)。
產(chǎn)品特點：
在一次執(zhí)行中實現(xiàn)多晶粒 PIC 表征
帶有可重新配置探頭的靈活設(shè)計
用于準(zhǔn)備、執(zhí)行和分析 PIC 測試數(shù)據(jù)的單一軟件套件
超精密光學(xué)頭 – 表面和邊緣耦合的理想選擇
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