產(chǎn)品簡介
TH2661型四探針測試儀,可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻,適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求,也可對分立電阻進(jìn)行測量,USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式,既能適應(yīng)固定場合對元器件進(jìn)行檢測,又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。