EXTECH華儀EST-300耐壓測(cè)試儀 接地電阻儀 返回列表頁(yè)

深圳市深東金儀器有限公司早在1996年香港成立香港東金電子有限公司，在2006年10月28在深圳成立深圳市福田區(qū)華強(qiáng)廣場(chǎng)東金電子儀器經(jīng)營(yíng)部，從事電子儀器行業(yè)20年，我們以銷售電子測(cè)量?jī)x器儀表為主要業(yè)務(wù)，為客戶提供較早型、高品質(zhì)的測(cè)試儀器。并以合理的價(jià)格、完善的售前及售后服務(wù)，使客戶得到平等、互惠的對(duì)待。我司的銷售人員擁有多年從事儀器行業(yè)銷售的工作經(jīng)驗(yàn)，能為您們提供專業(yè)的意見(jiàn)和分析，我們擁有豐富維修經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師為您們提供技術(shù)支持與技術(shù)培訓(xùn);可以更快捷地幫客戶解決測(cè)試方面的問(wèn)題。同時(shí)我公司也系統(tǒng)集成方案的供應(yīng)商，曾為多家大型上市公司設(shè)計(jì)中央系統(tǒng)集成方案也很好地解決了客戶長(zhǎng)期解決不了的生產(chǎn)測(cè)試難題，也更節(jié)省了生產(chǎn)的成本；也在行業(yè)中樹(shù)立了良好的口碑。

       深圳市深東金儀器有限公司主營(yíng)：數(shù)字/模擬電視中央信號(hào)源、CMMB信號(hào)源/發(fā)生器/發(fā)生卡、電視信號(hào)發(fā)生器、示波器、音視頻分析儀、安規(guī)測(cè)試儀、EMC測(cè)試儀、LCR測(cè)試儀、GPS信號(hào)發(fā)生器，HDMI高清信號(hào)源，彩色分析儀，DMB-TH/DVB-T/ATSC/ISDB調(diào)制器與功率放大器、示波器電源等儀器；

主營(yíng)的品牌有：美國(guó)泰克(Tektronix)、美國(guó)力科（LeCory）、美國(guó)安捷倫(是德)（KEYSIGHT)、德國(guó)偉視（WISI）、日本橫河（Yokogawa）、中國(guó)臺(tái)灣固緯（GWinstek）、日本菊水（KIKUSUI）、日本營(yíng)電（EIDEN）、日本LEVEAR,

日本菊水KIUSUI、英國(guó)Aim-tti、Pico Technology英國(guó)比克科技 等；同時(shí)我公司還有自主品牌寶碼（Pro-instrument）是我司穩(wěn)步發(fā)展的動(dòng)力.

     我們秉承“顧客至上，銳意進(jìn)取”的經(jīng)營(yíng)理念，堅(jiān)持“客戶*”的原則為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)和更好的測(cè)試方案，客戶的滿意就是我們前進(jìn)的較大動(dòng)力。所以在互聯(lián)網(wǎng)發(fā)展迅猛的今天，我司在立足深圳，放眼世界，將我們的品牌服務(wù)做強(qiáng)做大，為客戶更好地服務(wù)。您的滿意就是我們前進(jìn)的較大動(dòng)力。

深圳市深東金儀器有限公司歡迎咨詢0755   33217630  33217631

EXTECH華儀EST-300耐壓測(cè)試儀 接地電阻儀

EXTECH華儀EST-300耐壓測(cè)試儀 接地電阻儀

輕薄短小、功能俱全

EST-300系列新一代耐壓測(cè)試儀擁有*的緊密尺寸設(shè)計(jì)，并同時(shí)保有其強(qiáng)大的性能。不僅將交流耐壓(ACW)、直流耐壓(DCW)和絕緣阻抗(IR)功能整合到單一的機(jī)臺(tái)，其尺寸與重量的輕便優(yōu)勢(shì)利于任何空間的擺設(shè)配置。此外，透過(guò)儀器互連技術(shù)設(shè)計(jì)，更可以擴(kuò)充功能連接接地阻抗(GB)測(cè)試儀，從而形成更完整的測(cè)試系統(tǒng)，提供更全面的安規(guī)測(cè)試解決方案。

更輕、更薄小

A4面積的尺寸設(shè)計(jì)，便于任何空間擺設(shè)配置，搭配重量?jī)H5.5公斤可堪稱市場(chǎng)上輕巧的耐壓測(cè)試儀，不但讓用戶攜帶方便更增加器材的使用彈性。

三合一耐壓測(cè)試儀

單機(jī)擁有完整功能: 交流耐壓(ACW)、直流耐壓(DCW)、及絕緣阻抗(IR)?？呻S意組成多種不同測(cè)試程序，滿足各種測(cè)試需求。

高度測(cè)試效率

此產(chǎn)品搭配EEC*之緩升上限功能(Ramp-High)與充電下限功能(Charge-Low)技術(shù)，可設(shè)定電流判斷的上下限值，過(guò)濾人為因素造成的回路斷線，以及電器特性的脈沖電流所造成的測(cè)試誤判，提升整體測(cè)試效率。