目錄:深圳市新瑪科技有限公司>>半導(dǎo)體C-V特性分析儀>>參數(shù)測(cè)試儀>> HIOKI日置 3506-10電容電阻測(cè)試儀測(cè)量?jī)x
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更新時(shí)間：2025-05-15 16:13:25瀏覽次數(shù)：412評(píng)價(jià)
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| 測(cè)量頻率 | 1kHz, 1MHz | 輸出電阻 | 1Ω (在1kHz 時(shí)2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) |
|---|---|---|---|
| 功能 | BIN分類測(cè)量, 觸發(fā)同步輸出, 測(cè)量條件記憶, 測(cè)量值比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能 | 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大40VA |
| 體積 | 260W × 100H × 298Dmm | 重量 | 4.8kg |
HIOKI日置 3506-10電容電阻測(cè)試儀測(cè)量?jī)x
對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試
C、(tan δ), Q測(cè)試，低電阻測(cè)量 測(cè)試源頻率：1kHz，1MHz 測(cè)量時(shí)間：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB
HIOKI日置 3506-10電容電阻測(cè)試儀測(cè)量?jī)x概要
● 模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms(1MHz)的高速測(cè)量
● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度
● 1kHz、1MHz測(cè)量下，低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量
● 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量
基本參數(shù)
| 測(cè)量參數(shù) | C(電容),D(損耗系數(shù)tanδ), Q (1/tan δ) |
|---|---|
| 測(cè)量范圍 | C:0.001fF～15.0000μF D:0.00001 ～ 1.99999 Q:0.0 ～ 19999.9 |
| 基本精度 | (代表值)C:±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
| 測(cè)量頻率 | 1kHz, 1MHz |
| 測(cè)量信號(hào)電平 | 500mV, 1V rms |
| 輸出電阻 | 1Ω (在1kHz 時(shí)2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) |
| 顯示 | LED(6位顯示,滿量程由點(diǎn)數(shù)有效距離來(lái)決定) |
| 測(cè)量時(shí)間 | 1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz |
| 功能 | BIN分類測(cè)量, 觸發(fā)同步輸出, 測(cè)量條件記憶, 測(cè)量值比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動(dòng)功能, 電流檢測(cè)監(jiān)視功能, 輸出電壓值監(jiān)視功能, 控制用輸入輸出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口 |
| 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大40VA |
| 體積及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
| 附件 | 電源線× 1, 電源備用保險(xiǎn)絲× 1，使用說(shuō)明書(shū)× 1 |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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