粉末圖像顯微測(cè)試儀 顆粒圖像分析儀 顯微圖像分析系統(tǒng)
型號(hào)：HAD-LY2006
顆粒圖像分析儀
顯微圖像分析系統(tǒng)是我公司研制的一種圖像法顆粒分析儀器。它是傳統(tǒng)的顯微鏡法與現(xiàn)代的圖像處理相結(jié)合的產(chǎn)物。它的基本工作流程是通過數(shù)字?jǐn)z象機(jī)抓拍顆粒在顯微鏡下的圖像并傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中，通過專業(yè)的顆粒圖像分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行處理與分析， 經(jīng)顯示器和打印機(jī)顯示和輸出分析結(jié)果。本儀器具有直觀、準(zhǔn)確、測(cè)試范圍寬等特點(diǎn)，不僅可以直接觀察到顆粒形貌，還可以計(jì)算出每個(gè)顆粒粒徑和圓形度以及粒度分布和圓形度分布，為科研、領(lǐng)域增添了一種新的粒度測(cè)試手段。
一、顆圖像分析儀基本參數(shù)
- 測(cè)試范圍：1-3000微米；
- 顯微鏡：中外合資光學(xué)顯微鏡（可選配其他種類顯微鏡，如進(jìn)口顯微鏡、金相顯微鏡等）；
- 數(shù)字?jǐn)z像機(jī)：300萬像素；
- zui大光學(xué)放大倍數(shù)：1600倍；
- 系統(tǒng)總放大倍數(shù)：5000倍；
- zui大分辨率：0.1微米/像素；
- 重復(fù)性誤差：<3%（不包含樣品制備因素造成的誤差）。
二、數(shù)字?jǐn)z像機(jī)基本參數(shù)
- 像素尺寸：3.2μm X 3.2μm；
- 傳感器類型：逐行掃描CMOS；
- 輸出顏色：bayer彩色；
- 數(shù)據(jù)位數(shù)：紅綠藍(lán)各10選8；
- 光學(xué)尺寸：1/2英寸；
- 鏡頭接口：CS,C；
- 頻率：6幀/秒@2048X1536、10幀/秒@1600X1200、15幀/秒@1280X1024、45幀/秒@640X480；
- 信噪比：43dB；
- 動(dòng)態(tài)范圍：60dB；
- 清晰度：>1000線；
- 靈敏度：1.0V@550nm/lux/s；
- 曝光方式：ERS；
- 同步方式：外觸發(fā)或連續(xù)采集；
- 輸出方式：USB2.0；
- 數(shù)據(jù)傳輸距離：數(shù)據(jù)傳輸距離5米（加中繼可達(dá)25m）；
- 可編程控制：圖像尺寸、亮度、增益、幀率、曝光時(shí)間；
- 供電要求：5V；
- 功耗：<2.25W；
- 外形尺寸（mm）：54.5x54.5x46.1（含接圈）、38x38x38.7（不含接圈）。
三、儀器組成與圖像分析原理
- 儀器組成：
- 顯微圖像分析系統(tǒng)包括粒度分析軟件、數(shù)字?jǐn)z像機(jī)、顯微鏡、電腦、打印機(jī)等組成部分。
-
- 分析原理：
- 通過對(duì)顆粒數(shù)量和每個(gè)顆粒所包含的像素量的統(tǒng)計(jì)，計(jì)算出每個(gè)顆粒的等效面積圓和等球體積，從而得到顆粒的等效圓面積直徑和等球體積直徑以及圓形度等參數(shù)，再對(duì)所有的顆粒進(jìn)行分級(jí)統(tǒng)計(jì)，從而得到粒度分布、圓形度分布等信息。
四、顆粒圖像分析儀軟件功能
- 圖像處理功能：
- 對(duì)圖像進(jìn)行灰度轉(zhuǎn)換，二值化，分割，刪除，剪切，粘貼，縮放，填充等一系列處理，得到顆粒清晰的黑白二值化圖像。
-
- 數(shù)據(jù)處理功能：
- 通過對(duì)圖像進(jìn)行處理，測(cè)量軟件自動(dòng)統(tǒng)計(jì)出顆粒個(gè)數(shù)，然后計(jì)算每個(gè)顆粒所包含的像素?cái)?shù)，得出顆粒的面積、等效直徑、等效周長(zhǎng)、實(shí)際周長(zhǎng)、圓形度等參數(shù)。通過粒度分級(jí)，得到用戶需要的粒度分布表和分布圖以及d10、d50、d90等典型參數(shù)，并可根據(jù)需要選擇個(gè)數(shù)分布或體積分布。
-
- 軟件輸出項(xiàng)目：
- 包括原始數(shù)據(jù)（樣品信息和測(cè)試信息）；分析數(shù)據(jù)（粒度分布表/粒度分布圖）；圖形（頻率分布直方圖和累計(jì)分布曲線）；典型結(jié)果（中位徑，平均徑，圓形度等）。
-
- 報(bào)告輸出功能：
- 可以打印原始圖像和多種測(cè)試報(bào)告，包括粒度報(bào)告，圖像報(bào)告，圓形度報(bào)告以及粒度和典型圖像的綜合報(bào)告。
五、顆粒圖像分析儀適用領(lǐng)域
- 研磨材料：白剛玉、金剛石、碳化硅、碳化硼、氧化鈰等；
- 電池材料：石墨、鈷酸鋰等；
- 其他：可用來觀察各種非金屬粉、金屬粉以及其他粉體。
