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激光粒度分析儀 使用說明

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干濕兩用激光粒度分析儀  激光粒度分析儀   型號:HAD-WJL-626型

1、測量范圍:濕法:0.05~800微米

干法:0.1~800微米

2、準確性誤差:<±1%(國家標準物質(zhì)D50)

3、重復性偏差:<±1%(國家標準物質(zhì)D50)

4、電氣要求:交流220±10V,50Hz, 200W

5、外觀尺寸:950×330×300mm

6、重量:50KG

HAD-WJL-626型干濕兩用激光粒度分析儀工作原理:

HAD-WJL-626型干濕兩用激光粒度分析儀采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。

顆粒測試的數(shù)據(jù)計算一般分為無約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計算前假設顆粒群符合某種分布規(guī)律,再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運算相對比較簡單,但由于事先的假設與實際情況之間不可避免會存在偏差,從而有約束擬合計算出的測試數(shù)據(jù)不能真實反映顆粒群的實際粒度分布。

無約束擬合反演即測試前對顆粒群不做任何假設,通過光強直接準確地計算出顆粒群的粒度分布。這種計算前提是合理的探測器和粒度分級,給設備本身提出很高的要求。WJL-626型干濕兩用激光粒度分析儀采用*的非均勻性交叉三維扇形矩陣排列的探測器陣列和合理的粒度分級,從而能夠準確地測量顆粒群的粒度分布。

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