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中級(jí)會(huì)員 | 第14年

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8235日照計(jì)

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)HA8-FJ-1

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

產(chǎn)品資料下載

所  在  地北京市

更新時(shí)間:2020-05-27 10:12:42瀏覽次數(shù):493次

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產(chǎn)地類(lèi)別 國(guó)產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池
日照計(jì)/暗筒式日照計(jì)/8235日照計(jì)
HA8-FJ-1型暗筒式日照計(jì)用以觀測(cè)陽(yáng)光照射的起迄時(shí)間及統(tǒng)計(jì)日照時(shí)數(shù)。可供各中、小學(xué)校
開(kāi)展課外氣象觀測(cè)活動(dòng)的教學(xué)配備。

日照計(jì)/暗筒式日照計(jì)/8235日照計(jì) 型號(hào):HA8-FJ-1

HA8-FJ-1型暗筒式日照計(jì)用以觀測(cè)陽(yáng)光照射的起迄時(shí)間及統(tǒng)計(jì)日照時(shí)數(shù)??晒└髦小⑿W(xué)校
開(kāi)展課外氣象觀測(cè)活動(dòng)的教學(xué)配備。

參數(shù):

1、日照記錄時(shí)間:上午五時(shí)~下午十九時(shí)2、緯度使用范圍:0°~60°3、精度:各真太陽(yáng)時(shí),時(shí)鐘時(shí)間與日照記錄時(shí)間的誤差不超過(guò)±3分鐘
 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

磁性測(cè)厚儀型號(hào):HAD-TX-TD300

HAD-TX-TD300型磁性測(cè)厚儀是一種小型便攜式儀器,磁性測(cè)厚儀也稱涂層測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、涂鍍層測(cè)厚儀。其性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、重現(xiàn)性好、經(jīng)濟(jì)耐用,符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957,多次通過(guò)國(guó)家監(jiān)督的性能試驗(yàn),獲得計(jì)量器具許可證。

膜厚校正片
﹡ 膜厚校正片是儀器的計(jì)量基準(zhǔn)。HAD-TX-TD300磁性測(cè)厚儀的膜厚校正片全部經(jīng)過(guò)
     監(jiān)督的檢測(cè),附有檢測(cè)報(bào)告。這一點(diǎn)在儀器中都是不多見(jiàn)的。它保
     證了儀器計(jì)量的準(zhǔn)確性和可靠性。

探頭
﹡ 測(cè)厚儀容易損壞的部件是探頭,本公司的HAD-TX-TD300磁性測(cè)厚儀對(duì)探頭做了
     的耐久性,具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護(hù)功能。

探頭線
﹡ 由于涂鍍層測(cè)厚儀使用頻率很高,探頭線成為易損件。一般國(guó)產(chǎn)儀器的探頭用
     不多久就會(huì)出現(xiàn)故障,多數(shù)問(wèn)題出在探頭線上。

天星磁性測(cè)厚儀使用的探頭線是在日本定做的。這種導(dǎo)線初用于機(jī)器人,規(guī)定可
經(jīng)受幾百萬(wàn)次的曲折。實(shí)踐證明,這種探頭線很少有因頻繁曲折而損壞的。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

渦流測(cè)厚儀 型號(hào):HAD-TX-ED400

 HAD-TX-ED400型渦流測(cè)厚儀是HAD-TX-ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型,儀器性能大幅度提高。
      儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。
      儀器適于在現(xiàn)場(chǎng)、銷(xiāo)售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查, 可用于檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
      儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。
儀器特點(diǎn)
       HAD-TX-ED400型渦流測(cè)厚儀與HAD-TX-ED300型相比,具有如下特點(diǎn):
量程寬   HAD-TX-ED400型的量程達(dá)到0~500μm。
精度高   HAD-TX-ED400型的測(cè)量精度達(dá)到2%。
分辨率高   HAD-TX-ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。
校正簡(jiǎn)便   只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn),即可在全量程范圍內(nèi)保證精度。
基體導(dǎo)電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí),測(cè)量
   誤差不大于1~2μm。
可靠性提高   采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性
   提高。
穩(wěn)定性提高   采用的溫度補(bǔ)償,測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器
   校正一次可在現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
探頭線壽命長(zhǎng)   采用德國(guó)進(jìn)口的,在德國(guó)測(cè)厚儀上使用的探頭線,探頭線壽命
   可大大延長(zhǎng)。
探頭芯壽命長(zhǎng)   采用高強(qiáng)度磁芯材料,微調(diào)了探頭,探頭芯壽命可大大延
   長(zhǎng)。
探頭可互換   外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無(wú)
   需返廠維修。

測(cè)量范圍:     0~500μm
測(cè)量精度:     0~50μm:±1μm;
                    50~500μm:±2%
分 辨 率:     0~50μm:0.1μm、
                    50~500μm:1μm;
                    0~500μm:1μm(可選)
使用溫度:     5~45℃
外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
重      量:     260g

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

渦流測(cè)厚儀/便攜式渦流測(cè)厚儀 型號(hào):HAD-TX-ED300

HAD-TX-ED300型渦流測(cè)厚儀是一種小型便攜式儀器。性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、重現(xiàn)性好、經(jīng)濟(jì)耐用,符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流法》。儀器多次通過(guò)國(guó)家計(jì)量的性能試驗(yàn),獲得計(jì)量器具許可證。 

  HAD-TX-ED300型渦流測(cè)厚儀,用于測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度。
      儀器適于在現(xiàn)場(chǎng)、銷(xiāo)售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速無(wú)損的膜厚檢查??捎糜跈z驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
      儀器在國(guó)內(nèi)鋁型材、鋁門(mén)窗、監(jiān)督、工程質(zhì)檢等行業(yè)得到廣泛應(yīng)用,得到用戶的廣泛信任與好評(píng)。
儀器特點(diǎn)
校正箔片   作為儀器的計(jì)量基準(zhǔn),校正箔片經(jīng)過(guò)國(guó)家計(jì)量檢測(cè),附有檢測(cè)
    報(bào)告。
﹡探頭   對(duì)容易受損的探頭做了耐久性,具有防磕碰、防水等防護(hù)功能。
﹡探頭線   日本進(jìn)口的探頭線使用壽命較長(zhǎng)。
﹡儀器防護(hù)套   結(jié)實(shí)的透明塑料儀器套,可保護(hù)儀器免受損傷和污染。
﹡經(jīng)久耐用  HAD-TX-ED300型測(cè)厚儀對(duì)于惡劣的使用環(huán)境,頻繁的測(cè)量操作適應(yīng)性較
   強(qiáng)。在鋁型材行業(yè)十幾年的使用證明,它是一種性能優(yōu)良、可靠實(shí)用的儀器

測(cè)量范圍:   0~150μm      
測(cè)量精度:   ±3%                     
分 辨 率:   0.1μm
功      耗:   0.06W       
外形尺寸:   150mm×80mm×30mm        
重      量:   280g

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī)             1臺(tái)
探頭             1支
基體             1塊(6063合金)
校正箔片       1套4片(附檢測(cè)報(bào)告)
使用說(shuō)明書(shū)    1份
合格證          1份
保修單          1份    
手提式儀器箱 1個(gè)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

可調(diào)溫露點(diǎn)儀/露點(diǎn)儀/在中空玻璃點(diǎn)儀 型號(hào):HAD-ZJZ-TW-25

1.用途:

HAD-ZJZ-TW-25型可調(diào)溫露點(diǎn)儀為符合美國(guó)ASTM E546和E576標(biāo)準(zhǔn)的中空玻璃露點(diǎn)檢測(cè)設(shè)備。該設(shè)備為便攜型的檢測(cè)中空玻璃露點(diǎn)的設(shè)備,可對(duì)水平放置或垂直放置的樣品進(jìn)行測(cè)量。HAD-ZJZ-TW-25型可調(diào)溫露點(diǎn)儀具有冷阱溫度調(diào)節(jié)范圍大、溫度調(diào)節(jié)梯度小、冷容量大(規(guī)定試驗(yàn)時(shí)間內(nèi)溫度波動(dòng)小)、冷散失量小、試驗(yàn)成本低等特點(diǎn),在中空玻璃、科研院所、檢測(cè)中心及建筑工程上已得到了廣泛的應(yīng)用。

2.主要指標(biāo):

  1. 冷阱有效直徑:Φ25.4mm;
  2. 干冰筒容積:Φ75×145mm;
  3. 溫度調(diào)節(jié)范圍:-10至-60℃;
  4. 溫度調(diào)節(jié)梯度:≤±2℃;
  5. 溫度波動(dòng)量:±2℃;
  6. 溫度調(diào)節(jié)指示表(百分表)準(zhǔn)確性≤±10μm;
  7. 數(shù)顯溫度計(jì)指示準(zhǔn)確性≤±1℃;
  8. 試驗(yàn)方式:水平樣品或垂直樣品;

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