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四探針探頭探頭返回列表頁

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產(chǎn)品型號GSZ-HP-501

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更新時間：2016-03-30 08:55:59瀏覽次數(shù)：1790次

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四探針探頭探頭型號：GSZ-HP-501

四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

四探針探頭探頭型號：GSZ-HP-501

四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻（面電阻）的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

◆ 特性及規(guī)格：

1	特制之手握式探筆
2	球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷
3	探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
4	探頭使用壽命長
5	探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

型號
（Model）

曲率半徑
（Radius）

壓力
（loads）

探針間距
（spacing）

探針排列
（Arrangement）

GSZ-HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直線

北京恒奧德科技有限公司

電話：/51666869/

傳真：

手機：/

：2820129828/1575574360/1321298635/1445496132

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地址：北京北洼路90號院16號樓317室（北京市地質(zhì)工程勘察院院內(nèi)）

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