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探針測(cè)試臺(tái) 四探針測(cè)試臺(tái)

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產(chǎn)品型號(hào)ST-102E

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

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所  在  地北京市

更新時(shí)間：2016-03-30 14:33:54瀏覽次數(shù)：1765次

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探針測(cè)試臺(tái) 四探針測(cè)試臺(tái)
ST-102E型探針測(cè)試臺(tái)（英文叫Prober station,中文又稱(chēng)中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。）、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量的中間測(cè)試。

探針測(cè)試臺(tái) 四探針測(cè)試臺(tái)    型號(hào)：ST-102E

 

ST-102E型探針測(cè)試臺(tái)（英文叫Prober station,中文又稱(chēng)中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量的中間測(cè)試。
 

技　術(shù)　指　標(biāo) ：

工作臺(tái)面

 370mm*245mm

載物臺(tái)直徑

 4"

可選二種放大倍數(shù)

 *14-90倍連續(xù)變倍；
 *17.5-112.5倍連續(xù)變倍；

監(jiān)視方式

 顯微鏡和USB接口CCD攝像頭共存的監(jiān)視方式

光學(xué)參數(shù)

 手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm；

旋轉(zhuǎn)臺(tái)

 粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；zui小刻劃：1°；
 銅盤(pán)直徑：Φ85mm；絕緣盤(pán)直徑：Φ102mm

三維探針座

 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；
 三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定，由磁性開(kāi)關(guān)控制；
 zui多可布三維探針座6個(gè)；
 探針臂伸出長(zhǎng)度：60mm；
 探針長(zhǎng)度：40mm；

探針

 探針材質(zhì)硬質(zhì)合金，針尖曲率半徑2μm；


標(biāo)準(zhǔn)配置：主工作臺(tái)、顯微鏡、USB接口CCD攝像頭、三維微調(diào)座2個(gè)、探針臂2支、探針2支。
可選配件：三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。

 

 

 

 

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電  話(huà)：/51666869/

傳  真：                      

手  機(jī)：/             

  ：2820129828/1575574360/1321298635/1445496132

網(wǎng)  址：www.hengaodebj。。ｃｏｍ  www.54pc。。ｃｏｍ/netshow/ZT11690

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地  址：北京北洼路90號(hào)院16號(hào)樓317室（北京市地質(zhì)工程勘察院院內(nèi)）

 

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