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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
1. x射線(xiàn)衍射儀廠家介紹
SHD3000衍射計(jì)在分析領(lǐng)域中有很廣泛的應(yīng)用,從紡織品質(zhì)地到薄膜分析、張力測(cè)定和反射計(jì)等。
在測(cè)定層厚度和分析半導(dǎo)體組分的時(shí)候,借助高性能、高分辨率的衍射儀,您可以很輕松地獲得很好的結(jié)果。
高分辨率的反射計(jì)研究中可以借助SHD3000來(lái)確定層厚度、密度、表面和接觸面的粗糙程度。
2. SHD 3000的特點(diǎn)
• 有原位微處理器的超高穩(wěn)定性的X射線(xiàn)發(fā)生器,微處理器可通過(guò)電腦串行接口控制
• 高亮玻璃和陶瓷的X-射線(xiàn)管,在直線(xiàn)和點(diǎn)的焦點(diǎn)位置快速旋轉(zhuǎn)
• X-Y和旋轉(zhuǎn)臺(tái)的電子管屏蔽
• 應(yīng)用Max-FluxTM 光學(xué)系統(tǒng)的平行光束光路
• Eulerian cradle可以使樣品片刻就排列在一起
• 通過(guò)帶有光學(xué)編碼器的步進(jìn)電動(dòng)機(jī)進(jìn)行精確定位的高精度,高速度的測(cè)角儀
• 所有電機(jī)具有七級(jí)自由度
• 大尺寸X-Y-Z（X, Y, Z可調(diào)節(jié), X, Y為150mm, Z為25mm）機(jī)械樣品支架可以測(cè)量200mm的樣品圓片或者其他類(lèi)型的樣品
• 用于Cr、Fe、Co、Cu 和Mo輻射的二級(jí)單色器
• 花崗巖工作臺(tái)為測(cè)角儀提供了高的機(jī)械穩(wěn)定性
• 降低背景值或提高強(qiáng)度的使用填充氙氣的比例、閃爍計(jì)數(shù)器、固體狀態(tài)、線(xiàn)性和彎曲位敏檢測(cè)器（PSD）
• 使用Microsoft Windows 2000/NT/ME 或 XP 操作系統(tǒng),在32位環(huán)境下進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和儀器控
3. 應(yīng)用
• 紡織業(yè)
• 薄膜分析
• 應(yīng)變測(cè)量
• 半導(dǎo)體中的反射、層厚度、組分、密度、表面和接觸面的粗糙程度
