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雙折射(應(yīng)力)測量系統(tǒng)-EXICOR OIA 參考價:面議
雙折射(應(yīng)力)測量系統(tǒng)-EXICOR OIA是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統(tǒng)。殘余應(yīng)力測量 參考價:面議
該系統(tǒng)利用PEM調(diào)制光束的偏振狀態(tài)、先進(jìn)探測和解調(diào)電子來測量光學(xué)如何改變偏振狀態(tài)。這就導(dǎo)致了一個偏振狀態(tài)相對于另一個偏振狀態(tài)的光延遲測量結(jié)果是90°。...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)