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產(chǎn)品型號
品 牌其他品牌
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所 在 地北京市
更新時(shí)間:2024-11-20 11:11:08瀏覽次數(shù):289次
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自動(dòng)化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)
依靠F50薄膜厚度測量儀的光譜測量系統(tǒng),可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái),可以快速的定位所需測試的點(diǎn)并測試厚度,測試非??焖伲蠹s每秒能測試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。F50系統(tǒng)配置精度高使用壽命長的移動(dòng)平臺(tái),以求能夠做成千上萬次測量。
系統(tǒng)中預(yù)設(shè)了許多極坐標(biāo)形、方形和線性的圖形模式,也可以編輯自己需要的測試點(diǎn)。只需掌握基本電腦技術(shù)便可在幾分鐘內(nèi)建立自己需要的圖形模式。
基本上光滑的,非金屬的薄膜可以測量??蓽y樣品包括:
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