馬爾文帕納科

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  • 馬爾文帕納科晶圓分析儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：2830 ZT
    馬爾文帕納科晶圓分析儀2830 ZT提供了用于測(cè)量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 專(zhuān)門(mén)針對(duì)半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)而設(shè)計(jì)，該儀器可為多種晶片（厚達(dá) 300 ...
    型號(hào)： 2830 ZT 品牌：馬爾文帕納科所在地：國(guó)外 對(duì)比
    X射線熒光光譜儀臺(tái)式熒光光譜儀晶圓檢測(cè)儀晶圓測(cè)厚儀馬爾文帕納科
    2025/1/23 13:27:08123004
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