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光致發(fā)光光譜測(cè)試系統(tǒng)

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  • 型號(hào) 7-PLSpec
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
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更新時(shí)間:2016-05-13 15:45:35瀏覽次數(shù):913

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光致發(fā)光光譜測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)量半導(dǎo)體材料或其他發(fā)光特性材料(如GaN、ZnO、CdTe或某些復(fù)合薄膜等)在激光激發(fā)下的光致發(fā)光譜,進(jìn)而分析材料能帶等特征,是材料研究和半導(dǎo)體研究*的測(cè)試設(shè)備。

詳細(xì)介紹

該系統(tǒng)可以測(cè)量半導(dǎo)體材料或其他發(fā)光特性材料(如GaN、ZnO、CdTe或某些復(fù)合薄膜等)在激光激發(fā)下的光致發(fā)光譜,進(jìn)而分析材料能帶等特征,是材料研究和半導(dǎo)體研究*的測(cè)試設(shè)備。 

技術(shù)指標(biāo)

  • 光譜范圍:200-2500nm (可根據(jù)實(shí)際需要選擇)
  • 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度:±0.2nm
  • 光譜分辨率:±0.1nm
  • 光譜帶寬:0.2-10nm 可調(diào)
  • 光源波長(zhǎng):224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm等

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