產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
該系統(tǒng)可以測(cè)量半導(dǎo)體材料或其他發(fā)光特性材料(如GaN、ZnO、CdTe或某些復(fù)合薄膜等)在激光激發(fā)下的光致發(fā)光譜,進(jìn)而分析材料能帶等特征,是材料研究和半導(dǎo)體研究*的測(cè)試設(shè)備。
技術(shù)指標(biāo)
- 光譜范圍:200-2500nm (可根據(jù)實(shí)際需要選擇)
- 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度:±0.2nm
- 光譜分辨率:±0.1nm
- 光譜帶寬:0.2-10nm 可調(diào)
- 光源波長(zhǎng):224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm等