詳細(xì)摘要： 二手FIB+雙束FIB+場(chǎng)發(fā)射電鏡在高科技領(lǐng)域，掃描電鏡（SEM）是揭示材料微觀世界的重要工具。美國(guó)FEI公司和賽默飛（Thermo Fisher Scientific）作為電鏡技術(shù)的企業(yè)，其產(chǎn)品在全球范圍內(nèi)被廣泛使用?；窗哺粎R電子有限公司，作為專業(yè)的第三方供應(yīng)商，現(xiàn)提供現(xiàn)貨供應(yīng)的美國(guó)FEI/賽默飛掃描電鏡。

詳細(xì)摘要： 二手SEM+EDX場(chǎng)發(fā)射電鏡:超高分辨率：場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，最大可放大100萬倍，提供超高清晰度的圖像。多功能探頭：配備SE（二次電子）、BSE（背散射）、EDS（能譜）和STEM（掃描透射）探頭，能夠?qū)崿F(xiàn)表面形貌觀察和成分分析。

詳細(xì)摘要： sigma500 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡是蔡司公司推出的高性能設(shè)備，它采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過0.8nm，能提供優(yōu)秀分辨率和分析性能的科研平臺(tái)。這款設(shè)備專注于EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)，可以獲取分析性能，而且有多種探測(cè)器選擇，可以精準(zhǔn)匹配您的應(yīng)用程序，獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)等多種圖像信息

詳細(xì)摘要： 二手日立SU-8010場(chǎng)發(fā)射電鏡包括SU-8010主機(jī)和E-1045噴鉑噴碳裝置，并配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時(shí)，分辨率為1.0nm，加速電壓為1kV時(shí)，分辨率為1.3nm。

詳細(xì)摘要： 二手HITACHI-SU8010高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可用于材料分析和研究，特別是材料斷口分析、微區(qū)成分分析、各種鍍膜表面形貌分析、層厚測(cè)量和顯微組織形貌及納米材料分析等。

詳細(xì)摘要： （2）手日本電子JSM-7610Fplus（SEM測(cè)試，日本電子JSM-7610FPlus）適用于多種樣品的觀察和分析。實(shí)現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進(jìn)一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進(jìn)行低加速電壓觀察。

詳細(xì)摘要： 二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡（SEM）是在各種科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強(qiáng)大工具。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，SEMs使用電子而不是光來產(chǎn)生圖像。在SEM中，將聚焦的電子束掃描過樣品表面，電子與樣品之間的相互作用產(chǎn)生各種信號(hào)，被檢測(cè)到并轉(zhuǎn)換成圖像。初級(jí)電子束對(duì)表面進(jìn)行高精度掃描，以便對(duì)樣品的地形和形態(tài)進(jìn)行詳細(xì)檢查。SEM的主要優(yōu)點(diǎn)之一是能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率成像。

詳細(xì)摘要： 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡：具有出色的探測(cè)效率，能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，*高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對(duì)任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備靈活性，為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室或是顯微成像平臺(tái)中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像，提供靈活、可靠的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。

詳細(xì)摘要： 二手蔡司冷場(chǎng)電鏡，二手熱場(chǎng)場(chǎng)發(fā)射電鏡SUPRA 40是一款高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強(qiáng)性能加上多種納米工具的使用，不用花費(fèi)大量時(shí)間，使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場(chǎng)發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過程控制，納米技術(shù)等。

詳細(xì)摘要： 二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡：掃描電鏡（SEM）是利用電子束掃描樣品表面，產(chǎn)生二次電子等信號(hào)，通過檢測(cè)這些信號(hào)來獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優(yōu)點(diǎn)是分辨率高，可觀察到納米級(jí)別的細(xì)節(jié)，景深大，能清晰呈現(xiàn)三維形貌，可同時(shí)進(jìn)行成分分析。

詳細(xì)摘要： 二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強(qiáng)大的微觀分析工具，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)樣品表面形貌的高分辨率觀察，為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域的研究提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數(shù)范圍，能夠滿足不同研究領(lǐng)域的精細(xì)觀察需求。

詳細(xì)摘要： 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡，蔡司SUPRA 40VP場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實(shí)原貌的立體感樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息

詳細(xì)摘要： 二手蔡司電鏡 SEM+EDX+EBSDSUPRA 40是一款高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強(qiáng)性能加上多種納米工具的使用，不用花費(fèi)大量時(shí)間，使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場(chǎng)發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過程控制，納米技術(shù)等。

詳細(xì)摘要： 二手電鏡sem+edx掃描電鏡分辨率：高真空二次電子像小于3.0nm（30KV） 掃描電鏡放大倍數(shù)：5×～1000000×，連續(xù)可調(diào) 能譜儀分辨率：MnKα峰的半高寬優(yōu)于127eV； 能譜儀元素測(cè)試范圍：Be4— Pu94

詳細(xì)摘要： 二手鎢燈絲電鏡二手SEM: 日本電子，日立，F(xiàn)EI，蔡司，基恩士，泰斯肯，以上品牌各一。歡迎咨詢鎢燈絲電鏡和場(chǎng)發(fā)射電鏡。

詳細(xì)摘要： 二手 JSM-IT300經(jīng)過改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號(hào)處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質(zhì)量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺(tái)進(jìn)行高通量的直觀操作。

詳細(xì)摘要： 二手FEI-QUANTA 250掃描電鏡掃描電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統(tǒng)用聚焦電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描成像，成像信號(hào)可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發(fā)射出的電流激發(fā)到樣品表面產(chǎn)生二次電子，通過信號(hào)收集和信號(hào)轉(zhuǎn)換到達(dá)屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的形貌的觀察。

詳細(xì)摘要： 二手日本電子（SEM）IT-300提供高畫質(zhì)圖像，能滿足您對(duì) W-SEM 機(jī)型的期待，鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有所提高

詳細(xì)摘要： 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX SUPRA25系列產(chǎn)品配備有經(jīng)過改進(jìn)的第三代GEMINI®鏡筒、概念新穎的樣品臺(tái)、智能化硬件控制板和新型高效率的透鏡內(nèi)二次電子探測(cè)器。SUPRA™系列場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是卡爾蔡司半導(dǎo)體事業(yè)部的納米技術(shù)系統(tǒng)部向市場(chǎng)推出的功能最多的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。具有當(dāng)前儀器所具有的所有特征：如在圖像質(zhì)量超高分辨率、工作電壓切換方便、出色的束流穩(wěn)定性、全分析型樣品室。

詳細(xì)摘要： 二手日立+日本電子掃描電鏡掃描電子顯微鏡SEM是一種電子顯微鏡，它通過用聚焦電子束掃描表面來產(chǎn)生樣品的圖像。電子與樣品中的原子相互作用，產(chǎn)生包含樣品表面形貌和成分信息的各種信號(hào)。電子束的掃描路徑形如光柵，將電子束的位置與檢測(cè)信號(hào)的強(qiáng)度相結(jié)合即可輸出圖像。在最常見的SEM模式下，探測(cè)器可以檢測(cè)到由電子束轟擊原子所激發(fā)的二次電子。不考慮其它因素，可以檢測(cè)到的二次電子數(shù)以及信號(hào)強(qiáng)度取決于樣品形貌。