固體孔隙率測定儀

公司介紹

美國分散科技公司（DTI）專注于非均相體系表征的科學(xué)儀器業(yè)務(wù).DTI開發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應(yīng)用于在原濃分散體系中表征粒徑分布、zeta電位、流變學(xué)參數(shù)、固體含量、孔隙率、包括CMP漿料，納米分散體系、陶瓷漿料，電池漿料，水泥家族，藥物乳劑等，并可應(yīng)用于多孔固體。

利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時，聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來測量顆粒粒度及濃度，采用多頻電聲學(xué)測量技術(shù)測量膠體體系的Zeta電位。對于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，無需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測量。

傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理，既費時又容易出錯，而多頻電聲技術(shù)則可避免這些問題。超聲探頭（Zeta Probe）能直接在樣品的原始條件下測量zeta電位，允許樣品濃度高達(dá)50％（體積）。Zeta Probe 結(jié)構(gòu)設(shè)計緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到很好分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進(jìn)行自動校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。 

固體孔隙率測定儀

• 包含DT-300的功能,能夠用于幾乎所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng),,包括顆粒、沉積物和多孔材料
• 包括高頻電導(dǎo)率探頭，可以通過方法測量孔隙率
• 通過電聲電振法可以測量多孔材料的表面zeta電位
• 在用膠體振動電流 (CVI) 方式測定原濃體系的zeta電位時,輸入電導(dǎo)率值可計算雙電層厚度及粒子表面電荷密 度