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IQnfc+-RFID射頻識(shí)別測(cè)試儀 NFC物理層測(cè)試系統(tǒng)
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  • IQnfc+-RFID射頻識(shí)別測(cè)試儀 NFC物理層測(cè)試系統(tǒng)

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貨物所在地: 廣東深圳市
產(chǎn)地: 中國
更新時(shí)間: 2024-09-20 21:00:18
期: 2024年9月20日--2025年3月20日
已獲點(diǎn)擊: 70
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產(chǎn)品簡介

全面的測(cè)試覆蓋
功能測(cè)試通過使用標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議檢查基本的 NFC 功能
通過減少信令對(duì)所有關(guān)鍵 NFC 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行功能驗(yàn)證
射頻參數(shù)測(cè)試監(jiān)控 DUT 的物理層質(zhì)量
支持所有 EMVco 和 NFC Forum 標(biāo)準(zhǔn)線圈
包括用于標(biāo)準(zhǔn)定義的測(cè)試用例和限制的軟件
支持所有主要的 NFC 標(biāo)準(zhǔn)以及啟動(dòng)器和目標(biāo)模式的仿真,包括 ISO 14443A/B、ISO 18092、EMVCo、FeliCa、NFC A/B

詳細(xì)介紹

IQnfc+NFC物理層測(cè)試系統(tǒng)


IQnfc+® 是一種物理層測(cè)試系統(tǒng),經(jīng)過優(yōu)化,可在 DVT 和制造階段表征 NFC 設(shè)備。它支持 EVCo NFC 論壇中定義的所有測(cè)試用例。

LitePoint 提供交鑰匙軟件,便于進(jìn)行測(cè)試線圈校準(zhǔn)、執(zhí)行測(cè)試計(jì)劃并提供詳細(xì)的波形分析和靈活的 API 來定制實(shí)驗(yàn)室的測(cè)試流程。

全面的測(cè)試覆蓋

功能測(cè)試通過使用標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議檢查基本的 NFC 功能

通過減少信令對(duì)所有關(guān)鍵 NFC 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行功能驗(yàn)證

射頻參數(shù)測(cè)試監(jiān)控 DUT 的物理層質(zhì)量

支持所有 EMVco NFC Forum 標(biāo)準(zhǔn)線圈

包括用于標(biāo)準(zhǔn)定義的測(cè)試用例和限制的軟件

支持所有主要的 NFC 標(biāo)準(zhǔn)以及啟動(dòng)器和目標(biāo)模式的仿真,包括 ISO 14443A/B、ISO 18092、EMVCoFeliCa、NFC A/B/F/P2P

用于實(shí)驗(yàn)室和制造的快速簡單的測(cè)試

直觀的 GUI 簡化分析

自動(dòng)化測(cè)試解決方案限度地縮短了測(cè)試軟件的開發(fā)時(shí)間并加快了上市時(shí)間

緊湊而堅(jiān)固的設(shè)計(jì)使其易于部署到生產(chǎn)線中

輕巧便攜的測(cè)試儀,非常適合運(yùn)送到不同地點(diǎn)以調(diào)試問題

可選的定位夾具確??芍貜?fù)的測(cè)量和輕松的 DUT 定位

NFC 技術(shù)選項(xiàng)

ISO 14443A/B

ISO 18092

EMVCo

費(fèi)利卡

NFC A/B/F/P2P

何時(shí)何地使用 IQnfc+ 進(jìn)行測(cè)試?

在實(shí)驗(yàn)室或制造環(huán)境中

對(duì)于處于 PCB 級(jí)制造或最終產(chǎn)品測(cè)試生命周期階段的產(chǎn)品

適用于移動(dòng)或物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備



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