LBT可調(diào)式制備器

LBT可調(diào)式制備器說明： KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器，能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙，即zui終涂層厚度。刮涂時以每， O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。
 

LBT可調(diào)式制備器主要技術(shù)參數(shù)：
1 有效涂膜寬度： 55mm 100mm
2 外形尺寸： 112x78x100mm（長 x 寬 x 高） 112x106x108mm（長 x 寬 x 高）
3 儀器凈重： 358g 400g
4 精磨：±2μm

圖片展示

可調(diào)式制備器說明： KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器，能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙，即zui終涂層厚度。刮涂時以每， O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。

可調(diào)式制備器說明： KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器，能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙，即zui終涂層厚度。刮涂時以每， O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。

可調(diào)式制備器說明： KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器，能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙，即zui終涂層厚度。刮涂時以每， O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。

可調(diào)式制備器說明： KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器，能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙，即zui終涂層厚度。刮涂時以每， O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。

可調(diào)式制備器說明： KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器，能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙，即zui終涂層厚度。刮涂時以每， O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。

可調(diào)式制備器說明： KTQ-II可調(diào)式制備器適用于對膜厚的細微差別進行評估的研究。它通過調(diào)節(jié)制備器上方的兩個微分器，能上下方向調(diào)整下面的刮刀以控制間隙，即zui終涂層厚度。刮涂時以每， O 微米為單位調(diào)整刮刀的間隙。