憑借 DUALSCOPE® FMP100 和 FMP150，F(xiàn)ISCHEER可提供高性能手持式測量儀器，用于專業(yè)涂鍍層厚度測量中各種要求嚴(yán)苛的任務(wù)。這些儀器配備觸摸屏和 Windows™ CE 操作系統(tǒng)，操作快速且直觀。大的系統(tǒng)內(nèi)存意味著您可以執(zhí)行數(shù)千個測量任務(wù)。具有各種統(tǒng)計與分析功能，可用于處理結(jié)果。

此外，借助 DataCenter IP 檢查計劃軟件，您可以編譯單個圖形計劃，以確保生產(chǎn)中的工作流程一致，或使未經(jīng)培訓(xùn)的用戶快速熟悉正確的測量程序。

• 可換的探頭可為各種測量任務(wù)提供靈活選擇
• 在高分辨率圖形觸摸屏上詳細(xì)展示測試方案與檢查計劃
• 使用 Windows™ CE 操作系統(tǒng)進(jìn)行直觀的操作
• 通過磁感應(yīng)法和電渦流法進(jìn)行鐵和非鐵磁性金屬上的涂鍍層測量
• 測量符合標(biāo)準(zhǔn)，具有適用于 IMO PSPC、
  SSPCPA2、QUALANOD 或 QUALICOAT 的特殊模式

• DUALSCOPE® 用于鋼、鋁和其他非鐵磁性金屬上的涂鍍層，無需換儀器
• FMP150：非鐵磁性金屬或緣體上的鎳涂鍍層
• 非鐵磁性金屬、鐵或鋼上的微米級涂鍍層
• 非鐵磁性制成的厚涂鍍層或鋼上的保護(hù)涂鍍層