電子元器件老化測(cè)試設(shè)備

產(chǎn)品概述：

探井設(shè)備中的電路板采用的電子元器件在入廠前需要進(jìn)行從室溫到高溫的功能性定性測(cè)試，其目的是為電路板的裝配做元器件的篩選，即對(duì)元器件在老化過(guò)程中進(jìn)行功能性測(cè)試，保證器件的高可靠性。 
本電子元器件老化測(cè)試設(shè)備為某鉆探工程有限公司設(shè)計(jì)的電子元器件老化測(cè)試設(shè)備。設(shè)備由美國(guó)NI公司的高性能硬件與軟件，配合國(guó)內(nèi)外*的模塊化儀器設(shè)備，結(jié)合我公司自主開(kāi)發(fā)的信號(hào)路由矩陣及標(biāo)準(zhǔn)軟件組成，系統(tǒng)除裝卸件采用手動(dòng)完成外，測(cè)試過(guò)程由系統(tǒng)自動(dòng)完成。 

本設(shè)備采用了模塊化、標(biāo)準(zhǔn)化組件和元件，可以在室溫至180攝氏度環(huán)境溫度下對(duì)電子元器件進(jìn)行功能、電氣指標(biāo)的自動(dòng)化測(cè)試，并對(duì)測(cè)件性能進(jìn)行評(píng)判，可測(cè)試8類元器件。

產(chǎn)品功能：

性能詳解：

專注于元器件的在線環(huán)境仿真與性能檢測(cè)；
室溫至180攝氏度的任意溫度點(diǎn)在線環(huán)境測(cè)試，精度可達(dá)0.1攝氏度；
可以任意設(shè)置老化溫度點(diǎn)、老化時(shí)間與循環(huán)測(cè)試時(shí)間間隔。
集成自行研發(fā)大規(guī)模信號(hào)路由矩陣，資源路數(shù)可達(dá)192（×8）×16，同時(shí)兼容10MHz帶寬高頻信號(hào)及3A功率信號(hào)傳輸，通道間絕緣大于1000M歐姆，線路阻抗小于600m歐姆，串?dāng)_1MHz小于-60dB。
支持電阻、電容、電感、穩(wěn)壓器、二極管以及變壓器等多種元器件精確測(cè)試，測(cè)試內(nèi)容涵蓋電阻、電容、電感、紋波抑制比、耐壓等； 
老化板適配夾具耐溫可達(dá)270攝氏度，接口可基于元器件任意定制，可*擴(kuò)展設(shè)備的適用范圍；
自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程控制，操作簡(jiǎn)單，具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、曲線分析與報(bào)表生成功能。

技術(shù)指標(biāo)：

基本指標(biāo)