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光的等厚干涉實驗的見證
閱讀:2524 發(fā)布時間:2018-3-2實驗儀器:
等厚干涉實驗儀 型號:FMD6015
光的干涉實驗,在光學發(fā)展*,證實了光的波動性,由同一光源出發(fā)的光,入射到不平行透明物質界面上時,介質上下表面反射的光,在空間相遇就會形成等厚干涉條紋,牛頓環(huán)干涉現(xiàn)象是一種的等厚干涉。在實際生產和研究中,人們不但利用牛頓環(huán)干涉來進行測長,而且可以利用牛頓環(huán)干涉條紋的疏密和是否規(guī)則均勻來檢查光學元件、機械表面加工光面的光潔度、平整度,以及半導體器件上鍍膜厚度的測量等。
FMD6015等厚干涉實驗儀進行光的等厚干涉,測定牛頓環(huán)的曲率半徑和劈尖的夾角。
實驗項目:
1.觀察和研究等厚干涉現(xiàn)象及其特點,加深對光的波動性的認識;
2.利用牛頓環(huán)測量平凸鏡的曲率半徑和利用劈尖測量薄片的厚度;
3. 掌握讀數(shù)顯微鏡的調節(jié)和使用,學習用差數(shù)平均法處理數(shù)據(jù);
指標:
讀數(shù)顯微鏡:讀數(shù)范圍:0~50mm;
分度值:0.01mm,放大倍數(shù):30x;
斜視目鏡:45°;反射鏡:45°可調;
增加防滑裝置;
牛頓環(huán):R=1.5~2.0m;劈尖:可調帶框;
鈉光燈:20W,3孔通光;磁性擋光片,升降調節(jié);