FMD6133手動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀
偏振器方位角讀數(shù)范圍：0°-180°
測(cè)量范圍：1nm-300nm
測(cè)量值：≤1nm
入射角：30°-90°；誤差：≤0.1°
度盤刻度：每格2度
游標(biāo)格值：0.05°
光學(xué)中心高度：152mm
工作臺(tái)直徑：Φ70mm

FMD6133橢圓偏振測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹：

FMD6133手動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀使用消光法測(cè)量薄膜厚度和折射率；手動(dòng)調(diào)節(jié)測(cè)試過程中的起偏和檢偏角度。橢圓偏振法地應(yīng)用于固體基片上介質(zhì)薄膜的測(cè)量。在己有測(cè)定薄膜厚度的方法中，它是能測(cè)量到zui薄和精度zui高的一類。

FMD6133橢圓偏振測(cè)厚儀實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目：

1.了解并熟悉儀器的工作原理和性能

2.掌握如何利用設(shè)備測(cè)試樣品的方法

指標(biāo)：

偏振器方位角讀數(shù)范圍：0°-180°

測(cè)量范圍：1nm-300nm

測(cè)量值：≤1nm

入射角：30°-90°；誤差：≤0.1°

度盤刻度：每格2度

游標(biāo)格值：0.05°

光學(xué)中心高度：152mm

工作臺(tái)直徑：Φ70mm

外形尺寸：730mm*230mm*290mm

產(chǎn)品重量：20kg；

 

產(chǎn)品介紹：

FMD6133手動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀使用消光法測(cè)量薄膜厚度和折射率；手動(dòng)調(diào)節(jié)測(cè)試過程中的起偏和檢偏角度。橢圓偏振法地應(yīng)用于固體基片上介質(zhì)薄膜的測(cè)量。在己有測(cè)定薄膜厚度的方法中，它是能測(cè)量到zui薄和精度zui高的一類。

實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目：

1.了解并熟悉儀器的工作原理和性能

2.掌握如何利用設(shè)備測(cè)試樣品的方法

指標(biāo)：

偏振器方位角讀數(shù)范圍：0°-180°

測(cè)量范圍：1nm-300nm

測(cè)量值：≤1nm

入射角：30°-90°；誤差：≤0.1°

度盤刻度：每格2度

游標(biāo)格值：0.05°

光學(xué)中心高度：152mm

工作臺(tái)直徑：Φ70mm

外形尺寸：730mm*230mm*290mm

產(chǎn)品重量：20kg；