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TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品       牌Bruker/布魯克

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地上海市

更新時(shí)間：2023-05-16 17:50:40瀏覽次數(shù)：321次

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價(jià)格區(qū)間 面議 行業(yè)專用類型 通用
儀器種類 手持式/便攜式 應(yīng)用領(lǐng)域 地礦,能源,建材,電子,電氣
TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX
TXRF全反射X射線熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量分析，元素分析。

TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX

TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX

痕量分析 TXRF 光譜儀
       TXRF全反射X射線熒光光譜儀快速多元素痕量分析可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U。
       需要樣品量少，液體及懸浮物樣品1-50微升，粉末樣品10微克以內(nèi)。 
       便攜式全反射熒光儀，設(shè)備小巧，一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，不需要任何輔助設(shè)備及氣體、液氮等，可拿到現(xiàn)場進(jìn)行分析。 
       1位及25位全自動進(jìn)樣器兩款設(shè)計(jì)，分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動分析。 
       第四代XFlash®SDD硅漂移探測器，采用帕爾貼冷卻技術(shù)，不需要液氮，沒有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。 
       由于全反射無背景，熒光強(qiáng)度與元素含量直接成正比。標(biāo)準(zhǔn)曲線工廠已校準(zhǔn)好，用戶不需要標(biāo)樣就可以進(jìn)行定量分析。

行業(yè)應(yīng)用：

水、廢水、土壤中的污染元素；血液、尿液、組織中的有毒元素；食品、醫(yī)藥、刑偵、環(huán)保、陶瓷、水泥、建材、地質(zhì)等領(lǐng)域。


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