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納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)Anasys

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品       牌Bruker/布魯克

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地上海市

更新時間:2024-05-20 16:53:37瀏覽次數(shù):235次

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價格區(qū)間 面議 儀器類型 實驗室型
儀器種類 傅立葉變換型(FT) 應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)Anasys
2015年Anasys發(fā)布了最新一代產(chǎn)品nanoIR2-s,在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統(tǒng)的基礎(chǔ)上增加了散射近場光學(xué)成像和光譜功能(s-SNOM)。實現(xiàn)了同一平臺兼具AFM-IR和s-SNOM兩種技術(shù)。儀器的空間分辨率達(dá)到10nm,廣泛用于各種聚合物、有機(jī)無機(jī)復(fù)合材料、生物樣本、半導(dǎo)體、等離子體、納米天線等。

納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)Anasys


儀器種類:傅立葉變換型

儀器類型:實驗室型

產(chǎn)地類別:進(jìn)口

波數(shù)范圍:900-3600cm-1

分辨率:空間分辨率10nm, 光譜分辨率<1cm-1

掃描速度:10s/spectra

信噪比:200:1


產(chǎn)品介紹



2015Anasys發(fā)布了最新一代產(chǎn)品nanoIR2-s,在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統(tǒng)的基礎(chǔ)上增加了散射近場光學(xué)成像和光譜功能(s-SNOM)。實現(xiàn)了同一平臺兼具AFM-IRs-SNOM兩種技術(shù)。儀器的空間分辨率達(dá)到10nm,廣泛用于各種聚合物、有機(jī)無機(jī)復(fù)合材料、生物樣本、半導(dǎo)體、等離子體、納米天線等。

納米紅外&散射近場光學(xué)成像和光譜系統(tǒng)(nanoIR2-s)

AFM-IR &s-SNOM 


l   AFM-IR 消除分析化學(xué)研究人員的擔(dān)憂--FTIR光譜吻合,沒有吸收峰的任何偏移

l   s-SNOM使用金屬鍍層AFM探針代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強(qiáng)和散射樣品納米區(qū)域內(nèi)的光輻射,空間分辨率由AFM針尖的曲率半徑?jīng)Q定

l   技術(shù)實現(xiàn)智能的光路優(yōu)化調(diào)整,無需擔(dān)心光路偏差拖延你的實驗進(jìn)度

l   最準(zhǔn)確的定性微區(qū)化學(xué)表征,得到美國國家標(biāo)準(zhǔn)局NIST, 橡樹嶺國家實驗室等美國機(jī)構(gòu)的認(rèn)可

l   簡單易用的操作,被三十多位企業(yè)用戶和近百位學(xué)術(shù)界所選擇

l   基于DI傳承的多功能AFM實現(xiàn)納米熱學(xué),力學(xué),電學(xué)和磁學(xué)測量:

l   納米熱分析模塊(nanoTA, SThM

l   洛侖茲接觸共振模塊(LCR

l   導(dǎo)電原子力顯微鏡鏡(CAFM

l   開爾文電勢顯微鏡(KPFM

l   磁力顯微鏡(MFM

l   靜電力顯微鏡(EFM


10納米空間分辨率化學(xué)成像和光譜

石墨烯等離子體 高分辨率成像

  

石墨烯表面等離子體的近場相位和振幅成像;優(yōu)于10nm的光學(xué)成像


PTFEnano FTIR光譜顯示相干分子振動時域圖(上圖),和相應(yīng)的近場光譜(下左圖)。pNTP分子層的近場光譜(圖下右)。


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