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當前位置：上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?/a>>>光學儀器>>顯微鏡系列>> 超快速原子力顯微鏡 ULTRA Speed 2
| 參 考 價 | 面議 |
產品型號
品 牌Bruker/布魯克
廠商性質生產商
所 在 地上海市
更新時間：2024-05-20 18:46:43瀏覽次數(shù)：231次
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IXplore Standard 研究級顯微鏡系統(tǒng)
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品,化工,地礦,制藥 |
|---|
超快速原子力顯微鏡 ULTRA Speed 2
儀器種類：原子力顯微鏡
產地類別：進口
儀器類型：生物型
定位檢測噪聲：X-Y方向傳感器噪音水平RMS < 0.09 nm，Z方向傳感器噪音水平RMS < 0.04 nm
樣品尺寸：超大?140 ×18 mm3自由樣品空間，使用Head-Up樣品臺樣品高度可達14cm
樣品臺移動范圍：20×20 mm2
軟件：V7
超快速原子力顯微鏡 NanoWizard® ULTRA Speed 2
630 Hz線速率、10幀/秒高分辨超快速成像
最高分辨的定量納米力學成像
與密先進光學顯微鏡的結合
新一代基于工作流程的軟件革新
靈活易用的模塊化設計與大量模塊的拓展性
超快速掃描性能
NanoWizard® ULTRA Speed 2 擁有最新一代Vortis™ 2控制器、頂尖的基于工作流程的用戶界面、先進的掃描器設計以及新的工作模式，從而提供了的高性能和的用戶有好度。新一代超快速原子力顯微鏡結合了真正原子級分辨率與10幀/秒的超快速掃描速率。這些技術突破是JPK BioAFM技術團隊的技術專家們不斷強化與創(chuàng)新的結晶。
用戶易用性的新高度
JPK的工程師團隊采用了全新的方法開發(fā)了新一代控制軟件。新一代V7控制軟件基于工作流程，旨在滿足每個用戶的多種需求。新一代軟件可以更容易的控制復雜與長期的實驗過程，結合一整套新開發(fā)的配件與功能，幫助和加快科學產出。
真正原子級分辨率與超高的穩(wěn)定性
NanoWizard® ULTRA Speed 2為滿足高分辨率應用需求而設計。該系統(tǒng)提供的市面上噪音水平和最高穩(wěn)定性是獲得真正原子級分辨率的關鍵。此外，在超低力下的直接力控制可以防止對樣品和探針的損壞。該系統(tǒng)采用的位置傳感器技術，可以提供最高的精度和最大的準確度。
搭配倒置光學顯微鏡10幀/秒超快速掃描定義新標準
全新的NanoWizard® ULTRA Speed 2探針掃描技術可以達到傳統(tǒng)原子力顯微鏡難以企及的速度水平。實時、原位的成像實驗現(xiàn)在可以搭配高分辨先進光學系統(tǒng)進行。
采用NestedScannerTM技術對大起伏褶皺樣品進行高速成像
迄今為止，在活細胞、大起伏褶皺樣品以及具有陡峭邊緣的樣品進行最高時間與空間分辨率的動態(tài)成像實驗一直是一項具有挑戰(zhàn)性的工作?；谌碌?/span>NestedScannerTM技術，在細胞、細菌或其他褶皺樣品的表面可以實現(xiàn)高速的掃描成像，樣品最大容許起伏可達8 µm。
搭配先進熒光顯微鏡的AFM同步觸發(fā)與樣品動態(tài)過程實時觀察
樣品的動力學變化通常依賴于改變環(huán)境條件來觸發(fā)反應。全面的環(huán)境控制解決方案(溫度控制以及氣體或液體交換)，結合光學顯微鏡手段，使用戶能夠以的速度進行高級AFM實驗。NanoWizard® ULTRA Speed 2刷新了顯微鏡連用方案的標準。
高速掃描的技術優(yōu)勢
■高分辨觀察樣品實時的動態(tài)過程
■NestedScannerTM技術快速掃描褶皺或較高的樣品表面
■AFM與熒光顯微鏡連用實現(xiàn)原位的多參數(shù)觀察
■極大提高工作效率，快速觀察樣品多個位置
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