X-Strata920 是一款高精度臺式 XRF 分析儀，具有多種選擇，可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上的鍍層，是必須確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品、連接器、裝飾品和珠寶分析的理想選擇。
X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀的優(yōu)勢在于其多功能性。您可以從多種配置中進行選擇，包括五種基本配置以適應(yīng)不同尺寸的樣品、六種準(zhǔn)直器尺寸用于優(yōu)化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快測量過程同時保持準(zhǔn)確性的附加自動化功能。X-Strata920 易于使用，軟件直觀，可由非專業(yè)人員操作，并可輕松融入您的生產(chǎn)或質(zhì)量保證部門。
產(chǎn)品亮點
X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀具有多種選項和多功能性，可容納各種樣品，每次都能提供精確的分析。
適應(yīng)性設(shè)計，可對各種產(chǎn)品進行可靠分析
自動對焦和可選的程控臺提高了準(zhǔn)確性和速度
直觀的 SmartLink 軟件使測量和導(dǎo)出數(shù)據(jù)變得容易
多準(zhǔn)直器設(shè)計為每個樣品提供高準(zhǔn)確性
選擇適合應(yīng)用的比例計數(shù)器或硅漂移檢測器 (SDD)
符合行業(yè)規(guī)范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987
簡單的樣品加載和快速分析可在幾秒鐘內(nèi)提供結(jié)果
強大的光學(xué)分析單層和多層鍍層，包括合金層
對比型號
X-Strata920 （正比計數(shù)器） | X-Strata920 （硅漂移探測器） | |
| 元素范圍 | Ti – U | Ai – U |
| 樣品艙設(shè)計 | 開槽式 | 開槽式 |
| XY 軸樣品臺 | 固定臺、加深臺、自動臺 | 固定臺、加深臺、自動臺 |
| 最大樣品尺寸 | 250(寬)x200(深)x50(高)mm | 250(寬)x200(深)x50(高)mm |
最大準(zhǔn)直器數(shù) | 6 | 6 |
最大濾光片數(shù) | 3 (secondary) | n/a |
最小準(zhǔn)直器 | 0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil) | 0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil) |
最大樣品臺行程 | 178 x 178 mm | 178 x 178 mm |
SmartLink 軟件 | ?? | ?? |
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