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晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)XRD

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品       牌Freiberg Instruments

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地上海市

更新時間:2024-11-02 11:28:55瀏覽次數(shù):202次

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應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)XRD
晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)用于全自動分揀、晶體取向、optical notch and flat determination測定等。Si | SiC | AlN | 藍(lán)寶石(Al2O3) | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其他100多種材料。

晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)XRD


產(chǎn)品特點

晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)用于全自動分揀、晶體取向、optical notch and flat determination測定等。Si | SiC | AlN | 藍(lán)寶石(Al2O3) | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其他100多種材料。

詳細(xì)介紹


產(chǎn)品介紹:

晶圓XRD的特點

◇  自動化的晶圓處理和分類系統(tǒng)(例如:盒到盒)。

◇  晶體取向和電阻率測量 

◇  晶片的幾何特征(缺口位置、缺口深度、缺口開口角度、直徑、平面位置和平面長度)的光學(xué)測定 

◇  未拋光的晶圓和鏡面的距離測量 

◇  MES和/或SECS/GEM接口



Omega-scan方法:

◇  高的精度 

◇  測量速度: < 5秒/樣品 

◇  易于集成到工藝線中 

◇  典型的標(biāo)準(zhǔn)偏差傾斜度(例如:Si 100):   < 0.003 °,小于< 0.001 °。


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