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臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)PIDcon bifacial

品       牌Freiberg Instruments

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地上海市

更新時(shí)間：2024-11-04 09:38:18瀏覽次數(shù)：155次

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弗萊貝格 PIDcon bifacial 臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀
用于單面及雙面電池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽(yáng)能電池、晶體硅太陽(yáng)能電池、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德國(guó)FraunhoferCSP公司合作開(kāi)發(fā)了一種可作為商業(yè)應(yīng)用的臺(tái)式太陽(yáng)能電池和微型模塊的電勢(shì)誘導(dǎo)退控制的測(cè)量解決方案。

弗萊貝格 PIDcon bifacial 臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀



產(chǎn)品特點(diǎn)

用于單面及雙面電池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽(yáng)能電池、晶體硅太陽(yáng)能電池、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德國(guó)FraunhoferCSP公司合作開(kāi)發(fā)了一種可作為商業(yè)應(yīng)用的臺(tái)式太陽(yáng)能電池和微型模塊的電勢(shì)誘導(dǎo)退控制的測(cè)量解決方案。

詳細(xì)介紹


產(chǎn)品介紹：

雙面電池問(wèn)題：        

將電池的后側(cè)改為光蓋，被發(fā)現(xiàn)使雙面PERC電池和模塊對(duì)后側(cè)的新型PID敏感，即去極化型PID(PID-p)和腐蝕型PID機(jī)制(PID-c)。


解決方案：        

為了測(cè)試電池的這些類型的PID，我們開(kāi)發(fā)了PIDcon雙面體。它是用溫度、照明和高電壓對(duì)完整的電池進(jìn)行壓力測(cè)試，它可以在兩個(gè)方向上進(jìn)行極化。通過(guò)測(cè)量照明下的IV曲線，可以確定PID的靈敏度。


應(yīng)用：        

太陽(yáng)能電池片PID檢測(cè)

HIT、Topcon 、PERC、AL-BSF、PERC+、雙面PERC、PERT、PERL和IBC太陽(yáng)能電池的研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制。



PIDcon bifacial的特點(diǎn)：         

● 符合IEC62804-TS標(biāo)準(zhǔn)

● 易于使用的臺(tái)式設(shè)備

● 能夠測(cè)量c-Si太陽(yáng)能電池和微型模塊

● 無(wú)需氣候室

● 無(wú)需層壓電池

● 測(cè)量速度:小時(shí)至數(shù)天

● 可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、漏電流、濕度、溫度

● 太陽(yáng)能電池可以在以后通過(guò)EL等進(jìn)行研究

● 基于IP的系統(tǒng)允許遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持從世界任何地方


標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件:        

● 電壓:upto1.5kV

● 溫度:85°C

● 測(cè)試時(shí)間:4hours(typical)

● 干燥條件下，不需要水



類型                          受壓                                                     恢復(fù)
PID-s正面                85°C，+1.5 kV                             85°C，-1.5 kV

PID-p背面             85°C，+1.5 kV，無(wú)照明 85°C，        暗儲(chǔ)存或光照

PID-c背面                   85°C，+1.5 kV， 照明                    不可恢復(fù)

層壓      150°C，20min

樣品尺寸   210×210mm

適用于 A   PERC,AL-BSF,IBC,PERC+,雙面PERC,p型和n型電池 功率要求 110/230 V AC, 50/60 Hz


應(yīng)用實(shí)例：

2010年*報(bào)道了晶硅太陽(yáng)能組件在高壓影響下的故障。受影響的太陽(yáng)能電池顯示分流電阻度降低。這種效應(yīng)被稱為電位誘導(dǎo)降解（PID）。

到目前為止，PID測(cè)試主要在模塊上進(jìn)行。模塊制造和氣候室測(cè)試需要大量的材料、設(shè)備和工作費(fèi)用。

PIDcon是與FraunhoferCSP合作開(kāi)發(fā)的，目的是結(jié)合已建立的測(cè)試程序的優(yōu)點(diǎn)：基于模塊的PID測(cè)試等現(xiàn)實(shí)的PID測(cè)試條件，以及較低的時(shí)間和成本支出。



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