首頁>>上海昊量光電設(shè)備有限公司>>產(chǎn)品展示>>實(shí)驗(yàn)室電子產(chǎn)品>>膜厚測量儀
薄層方塊電阻測量儀-非接觸式 參考價(jià)：面議
薄層方塊電阻測量儀-非接觸式：昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層方塊電阻測量的非接觸式薄膜四方針方塊電阻方阻測量儀EddyCus TF Series，這款非接...
非接觸式金屬膜厚測量儀 參考價(jià)：面議
昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCus TF Series，這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實(shí)時(shí)測量，對導(dǎo)電薄膜的膜厚...
膜厚測量儀（測量厚度1nm~1.8mm） 參考價(jià)：面議
膜厚測量儀（測量厚度1nm~1.8mm）美國Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃級分辨率，非接觸式無損...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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