目錄:束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司>>三維X射線顯微鏡（XRM）>>粉末衍射儀>> D8 ADVANCE粉末衍射儀
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更新時(shí)間：2025-10-20 17:16:27瀏覽次數(shù)：163評(píng)價(jià)
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工作原理：
1、X射線源：產(chǎn)生單色X射線（如Cu Kα射線，波長(zhǎng)約0.154 nm），照射到粉末樣品上。
2、樣品特性：粉末樣品由無(wú)數(shù)隨機(jī)取向的小晶粒組成，確保所有可能的衍射方向均被覆蓋。
3、衍射條件：當(dāng)X射線波長(zhǎng)（λ）、晶面間距（d）和入射角（θ）滿足布拉格方程（2d sinθ = nλ）時(shí)，發(fā)生相干衍射，產(chǎn)生衍射峰。
4、探測(cè)器：記錄衍射角（2θ）和強(qiáng)度，形成衍射圖譜。
· 鑒別晶相和非晶相，并測(cè)定樣品純度
· 對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析
· 微觀結(jié)構(gòu)分析（微晶尺寸、微應(yīng)變、無(wú)序…）
· 熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力
· 織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析
· 指標(biāo)化、從頭晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定和晶體結(jié)構(gòu)精修
對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù)，它基于Bragg以及漫散射（“總散射”），提供無(wú)序材料的結(jié)構(gòu)信息。其中，您可以通過(guò)Bragg衍射峰，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長(zhǎng)程有序），通過(guò)漫散射，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）。
就分析速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對(duì)非晶、弱晶型、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言，D8 ADVANCE和TOPAS軟件替代了市面上性能更好的PDF分析解決方案：
· 相鑒定
· 結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修
· 納米粒度和形狀
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過(guò)進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度操控功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí)，著重對(duì)厚度在nm和µm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜）。
D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：
· 掠入射衍射
· X射線反射法
· 高分辨率X射線衍射
· 倒易空間掃描
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