反射是光譜測量的基本手段,實(shí)現(xiàn)反射光譜測量通常需要光譜儀、光源、光纖、測量支架、標(biāo)準(zhǔn)參比樣品和測量軟件等。對(duì)于不同種類的樣品,為了獲取較好的光譜數(shù)據(jù),反射這種基本模式又會(huì)演化為更多的形式。
復(fù)享光學(xué)為用戶提供了以光譜儀為核心的反射光譜測量儀器,可以搭建個(gè)性化的光譜測量系統(tǒng)。復(fù)享光學(xué) R3 反射光譜測量系統(tǒng)可以配置 1 個(gè)或者 2 個(gè)支架,用于固體和粉末樣品的反射率測量。R3 光譜測量支架也可以用來固定光纖探頭和光源,具備高靈活性和強(qiáng)實(shí)用性。
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| | R3 | 反射光譜測量支架(TA 光纖) | R3-SMA | 反射光譜測量支架(SMA905 光纖) | R3-FC | 反射光譜測量支架(FC光纖) | R3-DTA | 反射光譜測量支架(雙TA光纖) | R3-U | 反射光譜測量萬向支架(TA 光纖萬向調(diào)節(jié)) | R3-DU | 反射光譜測量雙萬向支架(雙 TA 光纖萬向調(diào)節(jié)) | R3-Mix | 反射光譜測量支架(雙 TA 光纖) | R3-R | 反射光譜測量支架(TA 光纖倒置) | R3-IS20/30/50 | 反射光譜測量支架 / 積分球 | R3-IS20/30/50-T | 透射光譜測量支架 / 積分球 | * 以企業(yè)網(wǎng)站主頁參數(shù)信息為準(zhǔn)。 | |