安捷倫4287A射頻LCR測試儀配測試頭夾具 返回列表頁

技術(shù)指標(biāo)

測量參數(shù) Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ

測量電路形式：串聯(lián)和并聯(lián)

工作頻率：1 MHz～3 GHz

頻率分辨率：10 kHz

信號源特性：

振蕩器電平：5mVrms～0.25Vrms(輸出端開路)

電平顯示單位：V，I，dBm

連接器：APC-3.5

輸出阻抗(額定值)：50Ω

觸發(fā)：內(nèi)部，外部，手動和GPIB

阻抗測量范圍：200 mΩ～3 kΩ

基本測量精度 Z|:1%；D:0.01

測量時(shí)間：10 ms

接口：GPIB，處理器接口

顯示器：8.4英寸彩色LCD顯示器

儲存：內(nèi)置HDD/FDD，備用SRAM存儲器

一般指標(biāo)

工作溫度/濕度：10～40℃/相對濕度15%～80%

預(yù)熱時(shí)間：30分鐘

電源要求：90V～132V,或198V～264V，47Hz～66Hz，500VA(大值)

尺寸：主機(jī)：426mm(寬)×234mm(高)×446mm(長)

主要技術(shù)資料

·儀器指標(biāo):

1MHz～3GHz，以100KHz分檔

阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3KΩ

在低測度信號電平上具有優(yōu)良的測量重復(fù)性

基本精度為1%

高速測量9ms

·Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供，

可靠和快速測量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對電子元件進(jìn)行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。

與反向測量技術(shù)不同，采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行測量。

·生產(chǎn) 質(zhì)量可靠

安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進(jìn)行測試。4287A的測量速度非常快。此外，在小測試電流(100mA)處優(yōu)良的

測試重復(fù)性還可以 提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^程非常短。

·系統(tǒng)組建簡單

測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點(diǎn)附近，而不會使誤差有任何增大。

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