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精研一體機(jī) Leica EM TXP 返回列表頁(yè)

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品牌Leica/徠卡

廠(chǎng)商性質(zhì)代理商

所在地廣州市

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更新時(shí)間：2025-04-15 17:27:08瀏覽次數(shù)：327次

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產(chǎn)地類(lèi)別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	化工,電子/電池,鋼鐵/金屬,電氣,綜合

與觀察體系合為一體

在顯微鏡下觀察整個(gè)樣品處理過(guò)程和目標(biāo)區(qū)域將樣品固定在樣品懸臂上，在樣品處理過(guò)程中，通過(guò)立體顯微鏡可對(duì)樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察，觀察角度0°至60°可調(diào)，或者調(diào)至 -30°，則可通過(guò)目鏡標(biāo)尺進(jìn)行距離測(cè)量。精研一體機(jī) Leica EM TXP還帶有明亮的環(huán)形LED光源照明，以便獲得視覺(jué)觀察效果。
> 對(duì)微小目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位和樣品制備
> 通過(guò)立體顯微鏡實(shí)現(xiàn)原位觀察
> 多功能化機(jī)械處理
> 自動(dòng)化樣品處理過(guò)程控制
> 可獲得平如鏡面的拋光效果
> LED 環(huán)形光源亮度可調(diào)，4分割區(qū)段可選

為微尺度制樣而生

對(duì)毫米和微米尺度的微小目標(biāo)進(jìn)行定位、切割、研磨、拋光是一項(xiàng)具有挑戰(zhàn)性的工作，主要困難來(lái)自：
> 目標(biāo)太小，不容易觀察
> 精確目標(biāo)定位，或?qū)δ繕?biāo)進(jìn)行角度校準(zhǔn)很困難
> 研磨、拋光到目標(biāo)位置常需花費(fèi)大量人力和時(shí)間
> 微小目標(biāo)極易丟失
> 樣品尺寸小，難以操作，往往不得不鑲嵌包埋

一體化顯微觀察及成像系統(tǒng)

Leica M80 立體顯微鏡
> 平行光路設(shè)計(jì)：通過(guò)主物鏡形成平行光路，焦平面一致
> 高倍分辨率：所有變倍比下都有優(yōu)質(zhì)的圖像質(zhì)量和穩(wěn)定的光強(qiáng)
> 人體工學(xué)設(shè)計(jì)：使用舒服的舒適度，無(wú)肌肉緊張感和疲勞感
Leica IC80 HD 高清攝像頭*
> 無(wú)縫設(shè)計(jì)：安裝在光學(xué)頭和雙目筒之間，無(wú)需添加顯像管或光電管
> 高品質(zhì)圖像：與顯微鏡共軸光路確保圖像質(zhì)量及獲得無(wú)反光圖像
> 提供動(dòng)態(tài)高清圖像，連接或斷開(kāi)計(jì)算機(jī)均可使用
4 分割區(qū)段亮度可調(diào) LED 環(huán)形光源
> 不同角度照明顯露樣品微小細(xì)節(jié)

多種方式制備處理樣品

樣品無(wú)需轉(zhuǎn)移，只需切換工具
不需要來(lái)回轉(zhuǎn)移樣品，只需要簡(jiǎn)單地更換處理樣品的工具就可完成樣品處理過(guò)程，并且樣品處理全過(guò)程都可通過(guò)顯微鏡進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。出于安全考慮，工具和樣品所在的工作室?guī)в幸粋€(gè)透明的安全罩，可避免在樣品處理過(guò)程中操作者不小心觸碰到運(yùn)轉(zhuǎn)部件，又可防止碎屑飛濺。
精研一體機(jī) Leica EM TXP可對(duì)樣品進(jìn)行如下處理：
> 銑削
> 切割
> 研磨
> 拋光
> 沖鉆