美國Bristol Instruments 于2005年成立, 專注于干涉測量的應(yīng)用。 Bristol 光學(xué)非接觸式測厚儀，運用邁克爾遜短相干干涉原理測量樣品厚度。精度高，穩(wěn)定性好，易于集成，響應(yīng)速度快。可靠. 可信賴，是適用于高規(guī)格應(yīng)用的非接觸式測厚儀。

具體應(yīng)用：

隱形眼鏡和人工晶體
中心厚和矢高–可浸沒在液體中測量
可測量的光學(xué)元件包括雙膠合鏡片，三膠合鏡片等
雙折射材料
精密玻璃管
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可同時測量壁厚, 內(nèi)徑,和外徑
塑膠薄膜和膠層
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單層或多層的厚度

•      測量精度高達(dá)± 0.1 μm（137系列為1um）.

•        長期測量重復(fù)性 ± 0.02 μm.

•        測量可靠度≥ 99.7%.

•        多達(dá)15層測量每一層厚度

•        Traceable to NIST 標(biāo)準(zhǔn)溯源

•        內(nèi)部自校準(zhǔn)

•        寬測量范圍： 35 μm to 28 mm.