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2、設(shè)備掃描法
取少量粒子試樣，通過粒子掃描設(shè)備，分析異色異形情況，并指導(dǎo)產(chǎn)線工藝，粒子掃描設(shè)備比人工挑選法準(zhǔn)確高效，設(shè)備掃描方法必然取代傳統(tǒng)的人眼挑選方法。
產(chǎn)品簡介
2、設(shè)備掃描法
取少量粒子試樣，通過粒子掃描設(shè)備，分析異色異形情況，并指導(dǎo)產(chǎn)線工藝，粒子掃描設(shè)備比人工挑選法準(zhǔn)確高效，設(shè)備掃描方法必然取代傳統(tǒng)的人眼挑選方法。
詳細(xì)介紹
顆粒外觀缺陷檢測掃描設(shè)備介紹
掃描分析異色料子，包括黑粒、雜色粒等異色粒子
掃描分析異形粒子，包括大小粒、蛇皮粒等等異形粒子
掃描分析異色異形粒子，MP-C1和MP-V1功能結(jié)合體設(shè)備。
顆粒外觀缺陷檢測儀MP-C1/V1（彩色攝影機(jī)）是Mcroptik公司專為塑料聚合物工業(yè)開發(fā)的，也是為了滿足原材料供應(yīng)商對產(chǎn)品質(zhì)量的要求提高M(jìn)P-C1異色分析設(shè)定20微米到200微米之間是攝影機(jī)像素的標(biāo)準(zhǔn)配置。它每小時可以處理出2公斤甚至到60公斤重的透明和不透明的粒子，當(dāng)然是取決于被檢產(chǎn)品顆粒的規(guī)格和材料 MP-C1/V1這一款的粒子掃描系統(tǒng)，我們把電腦與攝影機(jī)系統(tǒng)的連接線長度預(yù)留在3米。然后設(shè)定以分辨率在20微米的標(biāo)準(zhǔn)開始，在測試50微米，然后100微米到最后200微米等10個規(guī)格（客戶也可以自定義）。根據(jù)測量結(jié)果我們得到以下一組數(shù)據(jù)，并作為技術(shù)參數(shù)。
顆粒外觀缺陷檢測MP-V1異形分析設(shè)定30微米到1000微米之間是攝影機(jī)像素的標(biāo)準(zhǔn)配置。它每小時可以處理2公斤甚至到60公斤重的透明和不透明的粒子，當(dāng)然是取決于被檢產(chǎn)品顆粒的規(guī)格和材料。MP-V1這一款的粒子掃描系統(tǒng)，我們把電腦與攝影機(jī)系統(tǒng)的連接線長度預(yù)留在3米。然后設(shè)定以分辨率在30微米的標(biāo)準(zhǔn)開始，最后10000微米等10個規(guī)格（客戶也可以自定義）根據(jù)測量結(jié)果我們得到以下一組數(shù)據(jù)，并作為技術(shù)參數(shù)。
顆粒外觀缺陷檢測技術(shù)指標(biāo)、芯片彩色攝影機(jī)設(shè)定攝影機(jī)的像素：1936x1216像素，像素尺寸Pixel size：4.5um。
（1）20um起
USB 3CMOS
161f/s
18W
LED強(qiáng)光源（含測試臺背景輔助光源）
:19寸長
500x600x500mm（長、寬、高）
/功率：約在230V/110V:380VA
45公斤