ESD掃描測(cè)試系統(tǒng) 返回列表頁(yè)

ESD掃描測(cè)試系統(tǒng)探頭由具有軟件控制的機(jī)器手定位在所需的測(cè)試點(diǎn)，觸發(fā)耦合，并記錄被測(cè)器件的響應(yīng)以進(jìn)行相對(duì)抗擾度水平比較。簡(jiǎn)化的抗擾度設(shè)置圖和抗擾度示例圖（敏感性圖）如下所示：

ESD抗擾度掃描儀的應(yīng)用

根據(jù)IEC 61000-4-2型式試驗(yàn)確定敏感的點(diǎn)、區(qū)域或痕跡

開(kāi)發(fā)初期系統(tǒng)級(jí)ESD測(cè)試性能評(píng)估

設(shè)計(jì)變更前后相對(duì)抗擾度水平比較

選擇更多防靜電零部件（供應(yīng)商A優(yōu)于B）

靜電盒由TLP傳輸線(xiàn)脈沖和故障檢測(cè)單元組成

故障檢測(cè)單元

四個(gè)模擬信號(hào)輸入

四個(gè)數(shù)字信號(hào)輸入

三輔助輸入

遠(yuǎn)程控制DUT電源循環(huán)用120V和DC電源

用于圖像變化檢測(cè)的光學(xué)傳感器

用于聲音開(kāi)/關(guān)檢測(cè)的微型電話(huà)

DUT控制器的集成

多信號(hào)同時(shí)監(jiān)測(cè)

監(jiān)測(cè)信號(hào)的布爾運(yùn)算，以控制被測(cè)器件的復(fù)位和故障類(lèi)型的分類(lèi)

TLP傳輸線(xiàn)脈沖

200V至8,000V傳輸線(xiàn)充電電壓

<300>6 ns的下降時(shí)間，以防止在兩個(gè)邊緣引起故障

ESD掃描測(cè)試系統(tǒng)硬件配置參數(shù)：