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一.分析原理
X射線熒光光譜儀的工作原理是:原子經(jīng)X射線激發(fā),會發(fā)射出特征X射線。
測量特征譜線的能量或波長,可進行定性分析,測量譜線密度,與標準物質(zhì)做對比計算,即可進行定量分析。
特征X熒光的產(chǎn)生過程
1.受到外界激發(fā),電子吸收能量
2.電子逃逸
3.能級躍遷,以x射線的方式釋放能量
即使同樣的元素也會發(fā)生有不同的能量的X射線熒光
我們把外層躍遷到第一層釋放的一系列射線叫K系,把躍遷到第二層釋放的射線叫L系,第三層叫M系······
例如第二層躍遷到第一層叫Ka線,第三層躍遷到第一層叫Kβ,第三層躍遷到第二層叫La,第四層躍遷到第二層叫Lβ······
技術(shù)指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99%
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率:160±5eV
外觀尺寸: 550×416×333mm
樣品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg
應(yīng)用領(lǐng)域
RoHS檢測分析
地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
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