鍍層測厚儀

XUL/XULM系列的所有X射線光譜儀操作簡單直觀。較大的樣品可以簡單地手動放在測量室中；或者，對于較小的物品（例如插頭），儀器可以配備手動樣品臺。盡管測量設(shè)備緊湊，但它們?yōu)槟脑嚇犹峁┝俗銐虻目臻g-高度可達(dá)17厘米。

如果您有多種不同的測量任務(wù)，FISCHERSCOPE X射線XULM擁有可互切換的過濾器和準(zhǔn)直儀，因此您可以為所有應(yīng)用創(chuàng)造優(yōu)良的測量條件。 此外，XULM具有內(nèi)置的微聚焦管，即使在測量點微小和鍍層很薄的情況下也能提供準(zhǔn)確的結(jié)果。

鍍層測厚儀特點

根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度

XULM的小測量點約0.1 mm；XUL小測量點約0.5 mm

鎢X射線管或鎢微聚焦管（XULM）作為X射線源

采用經(jīng)實踐驗證的短測量時間的比例接收器

準(zhǔn)直器：固定或4個自動切換

初級過濾器：固定或3個自動切換

固定樣品臺或手動XY載物臺

用于光學(xué)觀察測量點的攝像頭

經(jīng)認(rèn)證的全面防護(hù)設(shè)計；

鍍層測厚儀應(yīng)用

電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產(chǎn)的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護(hù)

電鍍液中金屬含量的分析

裝飾性涂層 Cr/Ni/Cu/ABS

>電子行業(yè)連接器和觸點上的鍍層