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Chroma 3160/3160F 4 site 終端測(cè)試分類機(jī)9K pcs 產(chǎn)能 （Model 3160）彈性的矩陣測(cè)試及指紋圖形測(cè)試 （3160F）1~10...
致茂Chroma 3112 晶片測(cè)試分類機(jī)高信賴度之PnP自動(dòng)化測(cè)試分類機(jī)x4 多盤置入自動(dòng)測(cè)試分類Q方位 （X/Y/Z/θ） 可調(diào)式探針座模組測(cè)式座產(chǎn)品堆迭檢...
致茂Chroma 3111 桌上型單站測(cè)試分類機(jī)600 mm （W） x 565 mm （D） x 800 mm （H）可放置兩個(gè)JEDEC料盤支援 5x5mm...
致茂Chroma 3110-FT 三溫測(cè)試分類機(jī)可設(shè)定溫度范圍 -40℃~125℃適用于 FT測(cè)試支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到 45x45 mm控制下壓觸...
致茂Chroma 3110 雙用單站測(cè)試分類機(jī)雙用單站測(cè)試分類機(jī)適用於終端測(cè)試或系統(tǒng)功能測(cè)試自動(dòng)進(jìn)料出料艙的配置及依測(cè)試結(jié)果自動(dòng)分類的功能測(cè)頭內(nèi)建氣室，可吸收及...
致茂Chroma 33021 高壓器件電源馬克斯。每張卡2個(gè)通道的48V直流輸出-12V~48V獨(dú)立可編程電壓電平馬克斯。每個(gè)通道250 mA電流并聯(lián)電流幫派功...
致茂Chroma 33020 PXIe可編程器件電源高通道密度，每張卡有8個(gè)通道-6V~12V獨(dú)立可編程電壓電平馬克斯。每通道250 mA（6V時(shí)500 mA）...
Chroma 33011 PXIe繼電器驅(qū)動(dòng)程序控制模塊基于PXI-e的半導(dǎo)體負(fù)載板通用繼電器控制32CH直接繼電器驅(qū)動(dòng)器2通道SPI繼電器控制接口5V@100...
致茂Chroma 33010 高速PXIE數(shù)字IO卡標(biāo)準(zhǔn)PXIe總線連接器100 MHz大時(shí)鐘速率每個(gè)板32個(gè)通道在一個(gè)底盤中多可擴(kuò)展256個(gè)頻道任何地點(diǎn)的銷釘...
致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測(cè)試系統(tǒng)50/100 MHz 測(cè)試頻率50/100 Mbps 數(shù)據(jù)速率1024 數(shù)字通道管腳 （蕞高...
致茂Chroma HDAVO 高性能混和訊號(hào)解決方案8路任意波形發(fā)生器（AWG）和8路數(shù)字化器（DGT）為AWG和DGT提供高頻模式和高分辨率模式AWG-16位...
致茂Chroma 36020 直流電源供應(yīng)模塊相容于PXI 3U/混合式PXI匯流排,4通道+5V/-2V 及 +10V/-2V 兩種 force ranges...
致茂Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊相容于PXI 3U/混合式PXI匯流排Date rate蕞高為100MHz8個(gè)per-pin, per-cycl...
致茂Chroma 3650-CX SoC 測(cè)試系統(tǒng)50/100MHz測(cè)試工作頻率256個(gè) I/O 通道（I/O Channel）16/32 MW vector ...
致茂Chroma 3650 SoC 測(cè)試系統(tǒng)50/100MHz測(cè)試工作頻率512個(gè) I/O 通道（I/O Channel）16M （32M Max.） Patt...
致茂Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測(cè)試系統(tǒng)50/100MHz測(cè)試工作頻率1024個(gè) I/O 通道（I/O Channel）32M （64M ...
致茂Chroma 3680 *SoC/模擬測(cè)試系統(tǒng)24個(gè)可互換插槽，用于數(shù)字，模擬和混合信號(hào)應(yīng)用150 Mbps數(shù)據(jù)速率 （muxed模式蕞高1Gbps）蕞高5...
致茂Chroma 8000 光伏逆變器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)以Chroma 8000 ATS為基礎(chǔ)的客制化系統(tǒng)，專門針對(duì)光伏逆變器測(cè)試驗(yàn)證。Chroma 8000自動(dòng)測(cè)試...
Chroma7210光伏電池表面品質(zhì)檢查暨分色系統(tǒng)安裝于前端網(wǎng)版印刷制程或終端分選設(shè)備光伏電池正面或背面印刷瑕疵皆可檢測(cè)可檢測(cè)PERC和Bifacial制程所產(chǎn)...
致茂Chroma 7231 光伏硅片線鋸痕檢測(cè)機(jī)可整合到任何硅片分選機(jī)上可調(diào)整式的演算法可供檢測(cè)5“、6“以及單晶、多晶、準(zhǔn)單晶等各種硅片多樣化介面選擇可與不同...
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