Chroma7214-D光伏電池片抗反射層鍍膜檢測機抗反射層鍍膜檢測瑕疵與鍍膜不均勻的檢測可安裝于前端PECVD制程之后或者安裝于網(wǎng)版印刷制程之前

7213AD光伏電池片背面印刷暨表面臟污檢測機光伏電池片背面印刷暨表面臟污檢測V型缺角以及剝落類型的瑕疵檢測可安裝于前端網(wǎng)版印刷制程或者后端出貨分類制程

7212HS光伏電池片正面印刷暨表面臟污檢測機可與其他廠商的自動化網(wǎng)印線以及終端分選線體進行搭配整合自由調(diào)整的人性化操作軟體提供精細達14μm/pixel解析度...

致茂Chroma 7202 光伏硅片品質(zhì)檢測機可整合到任何硅片分選機上可調(diào)整式的演算法可供檢測5“、6“以及單晶、多晶、準單晶等各種硅片多樣化介面選擇可與不同設(shè)...

Chroma 7201光伏硅片外觀暨表面臟污檢測機可整合到任何硅片分選機上可調(diào)整式的演算法可供檢測5“、6“以及單晶、多晶、準單晶等各種硅片多樣化介面選擇可與不...

致茂Chroma 7210-P 網(wǎng)印端自動檢測系統(tǒng)太陽能電池片網(wǎng)印端自動檢測設(shè)備安裝于網(wǎng)印端印刷轉(zhuǎn)盤上可與不同自動化線體廠商進行整合高擴充性的演算法編輯器，針對...

Chroma7200光伏電池片與硅片自動化檢測系統(tǒng)7200光伏電池片與硅片自動化檢測系統(tǒng)7201光伏硅片外觀暨表面臟污檢測機7202光伏硅片品質(zhì)檢測機7231光...

致茂Chroma 7503三維光學輪廓儀使用白光干涉量測技術(shù)，非破壞性、快速表面形貌量測與分析模組化設(shè)計可依量測需求及預(yù)算考慮進行各部件選配提供多種表面參數(shù)量測...

致茂Chroma 7505-05 多功能光學檢測系統(tǒng)適用于金屬外殼、電池、CG尺寸品質(zhì)檢測整合高解析度相機可進行 2D尺寸量測整合線雷射掃瞄器可進行 3D尺寸量...

Chroma 7505-2線上型自動化光學檢測系統(tǒng)適用于ITO （Indium Tin Oxide）薄膜、RFID、FPC等連續(xù)式（Roll to Roll）制...

致茂Chroma 7505-1 多功能光學檢測系統(tǒng)一機具備1D、2D、3D量測能力具備膜厚量測功能（1D），使用穿透反射式量測，可進行非破壞式膜厚量測使用高解析...

致茂Chroma7505半導(dǎo)體*封裝光學測量系統(tǒng)整合白光干涉量測技術(shù)，進行非破壞性的光學尺寸量測。可進行待測物之關(guān)鍵尺寸（CD）、Overlay（OVL）及Th...

致茂Chroma 7925TO-CAN 封裝外觀檢測系統(tǒng)可檢測TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合不良等缺陷具備自動對焦功能，可克服載盤制造...

致茂Chroma 58603 TO-CAN/CoC 燒機測試系統(tǒng)可提供燒機測試、信賴性測試與壽命測試每個系統(tǒng)可提供高達10 個模組測試支援 自動電流控制模式（A...

致茂58604雷射二極體燒機及可靠性測試系統(tǒng)可提供燒機測試，信賴性測試與老化測試支持自動電流控制模式（ACC）與自動功率控制模式（APC）個別通道（Channe...

致茂Chroma 58620 激光半導(dǎo)體特性測試機全自動化檢測邊射型激光半導(dǎo)體芯片高精密及高容量載具設(shè)計自動光纖耦合測試對位設(shè)計（Auto-alignment）...

致茂Chroma 7940 晶圓檢測系統(tǒng)可同時檢測正反兩面晶圓大可檢測6吋擴膜晶圓（檢測區(qū)域達8吋范圍 ）可因應(yīng)不同產(chǎn)業(yè)的晶粒更換或新增檢測項目上片后晶圓自動對...

Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點測系統(tǒng)58635-L光電組件晶圓LIV點測系統(tǒng)58635-N光電組件近場量測點測系統(tǒng)58635-F光電組件遠場...

54100/54130/54180致冷芯片溫度控制器54100致冷芯片溫度控制器54130-27-12致冷芯片控制器 300W54180-40-20致冷芯片控制...

致茂Chroma 58212-C LED電性測試系統(tǒng)高速高精度橫向、垂直和倒裝芯片寬功率測試范圍（高達200 V/2A）高達8英寸的晶片Chroma巨型光電探測...