布魯克近紅外光譜儀 參考價(jià):面議
MPA III 是一個(gè)強(qiáng)大的工具,可用于開(kāi)發(fā)復(fù)雜的校準(zhǔn)方法,以滿足您的實(shí)驗(yàn)室或工藝需求,同時(shí)也是日常工作中易于使用的QA/QC儀器。BEAM傅立葉變換近紅外在線過(guò)程分析光譜儀 參考價(jià):面議
全新產(chǎn)品BEAM,是專用的單通道光譜儀,可充分釋放FT-NIR光譜技術(shù)的潛能,助力固體樣品過(guò)程控制邁上新臺(tái)階。直接在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量的BEAM,讓您能夠靈活地進(jìn)...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)